用于光学检测装置的校正方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310693214.7

申请日：

2013-12-17

公开(公告)号：

CN104713584A

公开(公告)日：

2015-06-17

发明(设计)人：

郑文玮郑国渊王柏翔

申请人：

申请人地址：

中国台湾桃园县龟山乡华亚科技园区华亚一路66号

IPC主分类号：

G01D1800

IPC分类号：

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

徐金国

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-06-17	公开	公开
2015-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101616806372 IPC(主分类):G01D 18/00 专利申请号:2013106932147 申请日:20131217
2017-04-12	授权	授权

共 50 条

[1]

光学检测装置以及校正方法 [P].

刘育鑫 ;

詹凱劭 ;

薛名凱 .

中国专利 :CN111323369A ,2020-06-23

[2]

光学中心检测方法及检测装置、校正方法 [P].

王军 .

中国专利 :CN108318224A ,2018-07-24

[3]

光学检测装置、光学检测方法、用于光学检测的装置 [P].

郭德银 ;

龚海 ;

高涵 ;

刘进 ;

陈飞跃 ;

李青岩 ;

陈俊秀 .

中国专利 :CN117969526A ,2024-05-03

[4]

具有在线校正功能的光学检测装置 [P].

陈昌隆 ;

宋新岳 ;

简宏达 .

中国专利 :CN104764477B ,2015-07-08

[5]

用于曲面检测的光学检测装置 [P].

陈泳男 ;

郑钦源 .

中国专利 :CN214252054U ,2021-09-21

[6]

用于微粒的光学检测方法和光学检测装置 [P].

篠田昌孝 ;

今西慎悟 .

中国专利 :CN101419171B ,2009-04-29

[7]

光学中心检测方法、校正方法及相关装置 [P].

林华苗 ;

李建华 .

中国专利 :CN105976363A ,2016-09-28

[8]

光学检测装置 [P].

郑文玮 ;

郑国渊 ;

王浩鉴 .

中国专利 :CN104748856A ,2015-07-01

[9]

光学检测方法、光学检测装置及光学检测系统 [P].

安比卡帕亚鲁木鲁甘 ;

徐敏堂 ;

陆家樑 ;

方志恒 .

中国专利 :CN110658198A ,2020-01-07

[10]

缺陷检测装置及缺陷检测的校正方法 [P].

张一志 ;

张逸群 ;

娄尚 ;

杨晓青 .

中国专利 :CN115406905A ,2022-11-29

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