干扰的检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510162168.0

申请日：

2025-02-13

公开(公告)号：

CN119995754A

公开(公告)日：

2025-05-13

发明(设计)人：

王子傲

申请人：

北京玄戒技术有限公司

申请人地址：

100085 北京市海淀区西二旗中路33号院1号楼5层101

IPC主分类号：

H04B17/345

IPC分类号：

H04W72/541

代理机构：

北京法胜知识产权代理有限公司 11922

代理人：

罗岚

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H04B 17/345申请日:20250213
2025-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

干扰检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张绍楷 ;

贾保灵 ;

李天宬 .

中国专利 :CN114765793B ,2025-02-25

[2]

干扰检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张绍楷 ;

贾保灵 ;

李天宬 .

中国专利 :CN114765793A ,2022-07-19

[3]

芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石雪梅 ;

陈波 ;

赵毅强 ;

何家骥 ;

张虹 ;

林冰馨 ;

黄周晨 .

中国专利 :CN118707290B ,2025-11-18

[4]

芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周志敏 ;

黄燕青 .

中国专利 :CN120220779A ,2025-06-27

[5]

芯片检测方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

石雪梅 ;

陈波 ;

赵毅强 ;

何家骥 ;

张虹 ;

林冰馨 ;

黄周晨 .

中国专利 :CN118707290A ,2024-09-27

[6]

芯片检测方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118691611B ,2024-12-17

[7]

芯片检测方法、电子设备及存储介质 [P].

石圣涛 ;

蒋贵和 ;

王巧彬 .

中国专利 :CN112881419B ,2024-01-30

[8]

芯片检测方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118691611A ,2024-09-24

[9]

芯片检测方法、电子设备及存储介质 [P].

石圣涛 ;

蒋贵和 ;

王巧彬 .

中国专利 :CN112881419A ,2021-06-01

[10]

芯片异常的检测方法、装置、电子设备、存储介质及芯片 [P].

闫学昭 .

中国专利 :CN120935345A ,2025-11-11

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