检查方法、计算机可读取记录介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011518195.0

申请日：

2020-12-21

公开(公告)号：

CN113160111B

公开(公告)日：

2025-05-27

发明(设计)人：

水中贤

申请人：

仪景通株式会社

申请人地址：

日本长野县

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

C12Q1/06 C12M1/34 C12M1/00

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

于英慧;崔成哲

法律状态：

授权

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-27	授权	授权

共 50 条

[1]

检查方法、计算机可读取记录介质和标准板 [P].

水中贤 .

中国专利 :CN113160111A ,2021-07-23

[2]

装置、方法以及计算机可读取的记录介质 [P].

水户健太 ;

大野毅 .

日本专利 :CN120658690A ,2025-09-16

[3]

计算机系统及计算机可读取的记录介质 [P].

片山吉章 .

中国专利 :CN1366636A ,2002-08-28

[4]

记录装置、记录方法、程序及计算机可读取的记录介质 [P].

小幡英生 ;

柏木繁 ;

大野昌良 .

中国专利 :CN101052951A ,2007-10-10

[5]

布局图设计规则检查的方法与计算机可读取记录介质 [P].

张宗智 ;

郭建志 .

中国专利 :CN101206679B ,2008-06-25

[6]

检查方法、检查系统以及计算机可读取的非临时性记录介质 [P].

岩田祐士 ;

造田茂彦 ;

小关英一 ;

竹内一平 ;

后藤洋臣 ;

米田恭子 ;

西本尚弘 ;

桥本豊之 .

中国专利 :CN112924450A ,2021-06-08

[7]

缺陷检查装置、缺陷检查方法以及计算机可读记录介质 [P].

池田泰之 ;

栗田真嗣 .

中国专利 :CN110274908B ,2019-09-24

[8]

图像检查装置、图像检查方法以及计算机可读记录介质 [P].

加藤豊 .

中国专利 :CN110274910B ,2019-09-24

[9]

研磨方法、研磨装置及计算机可读取记录介质 [P].

佐鸟博俊 .

日本专利 :CN120500399A ,2025-08-15

[10]

解析装置、方法及计算机可读取的记录介质 [P].

高木伴彰 ;

徐天放 .

中国专利 :CN113950649B ,2022-01-18

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