缺陷检查装置、缺陷检查方法以及计算机可读记录介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910030739.X
申请日
2019-01-14
公开(公告)号
CN110274908B
公开(公告)日
2019-09-24
发明(设计)人
池田泰之 栗田真嗣
申请人
申请人地址
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮编:600-8530)
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01N21956
代理机构
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
杨文娟;臧建明
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
缺陷检查装置、缺陷检查方法及计算机可读存储介质 [P]. 
池田泰之 ;
栗田真嗣 .
中国专利 :CN109781733B ,2019-05-21
[2]
图像检查装置、图像检查方法以及计算机可读记录介质 [P]. 
加藤豊 .
中国专利 :CN110274910B ,2019-09-24
[3]
缺陷检查装置、缺陷检查方法及其程序 [P]. 
池田泰之 ;
栗田真嗣 .
中国专利 :CN112567229A ,2021-03-26
[4]
缺陷检查装置、缺陷检查方法及存储介质 [P]. 
池田泰之 ;
栗田真嗣 .
日本专利 :CN112567229B ,2024-10-29
[5]
缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P]. 
藏所启一 ;
铃木孝治 .
中国专利 :CN101620190A ,2010-01-06
[6]
缺陷检查装置、方法以及信息记录介质 [P]. 
坂田幸辰 ;
杉浦京佳 ;
平井隆介 ;
谷泽昭行 .
中国专利 :CN114266781A ,2022-04-01
[7]
缺陷检查装置、缺陷检查方法以及存储介质 [P]. 
森谷章 .
日本专利 :CN117405679A ,2024-01-16
[8]
缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P]. 
高木裕治 ;
原田实 ;
坂本雅史 ;
平井大博 .
中国专利 :CN105026883B ,2015-11-04
[9]
缺陷检查装置以及缺陷检查方法 [P]. 
川岛裕史 ;
上田高敬 ;
江草稔 ;
境纪和 ;
锦户良太 .
中国专利 :CN110621988A ,2019-12-27
[10]
缺陷检查方法以及缺陷检查装置 [P]. 
长谷川正树 ;
小贯胜则 ;
兼冈则幸 ;
村越久弥 ;
尾方智彦 .
中国专利 :CN108603850B ,2018-09-28