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缺陷检查装置、缺陷检查方法以及计算机可读记录介质
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910030739.X
申请日
:
2019-01-14
公开(公告)号
:
CN110274908B
公开(公告)日
:
2019-09-24
发明(设计)人
:
池田泰之
栗田真嗣
申请人
:
申请人地址
:
日本京都府京都市下京区盐小路通堀川东入南不动堂町801番地(邮编:600-8530)
IPC主分类号
:
G01N2188
IPC分类号
:
G01N21956
代理机构
:
北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205
代理人
:
杨文娟;臧建明
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2019-09-24
公开
公开
2022-01-11
授权
授权
2019-10-22
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/88 申请日:20190114
共 50 条
[1]
缺陷检查装置、缺陷检查方法及计算机可读存储介质
[P].
池田泰之
论文数:
0
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0
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0
池田泰之
;
栗田真嗣
论文数:
0
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0
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0
栗田真嗣
.
中国专利
:CN109781733B
,2019-05-21
[2]
图像检查装置、图像检查方法以及计算机可读记录介质
[P].
加藤豊
论文数:
0
引用数:
0
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0
加藤豊
.
中国专利
:CN110274910B
,2019-09-24
[3]
缺陷检查装置、缺陷检查方法及其程序
[P].
池田泰之
论文数:
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0
池田泰之
;
栗田真嗣
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0
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0
栗田真嗣
.
中国专利
:CN112567229A
,2021-03-26
[4]
缺陷检查装置、缺陷检查方法及存储介质
[P].
池田泰之
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
欧姆龙株式会社
欧姆龙株式会社
池田泰之
;
栗田真嗣
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
欧姆龙株式会社
欧姆龙株式会社
栗田真嗣
.
日本专利
:CN112567229B
,2024-10-29
[5]
缺陷检查方法以及缺陷检查装置
[P].
藏所启一
论文数:
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藏所启一
;
铃木孝治
论文数:
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铃木孝治
.
中国专利
:CN101620190A
,2010-01-06
[6]
缺陷检查装置、方法以及信息记录介质
[P].
坂田幸辰
论文数:
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坂田幸辰
;
杉浦京佳
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杉浦京佳
;
平井隆介
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平井隆介
;
谷泽昭行
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谷泽昭行
.
中国专利
:CN114266781A
,2022-04-01
[7]
缺陷检查装置、缺陷检查方法以及存储介质
[P].
森谷章
论文数:
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0
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0
机构:
株式会社东芝
株式会社东芝
森谷章
.
日本专利
:CN117405679A
,2024-01-16
[8]
缺陷检查方法以及缺陷检查装置
[P].
高木裕治
论文数:
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高木裕治
;
原田实
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原田实
;
坂本雅史
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坂本雅史
;
平井大博
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平井大博
.
中国专利
:CN105026883B
,2015-11-04
[9]
缺陷检查装置以及缺陷检查方法
[P].
川岛裕史
论文数:
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川岛裕史
;
上田高敬
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上田高敬
;
江草稔
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江草稔
;
境纪和
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境纪和
;
锦户良太
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0
锦户良太
.
中国专利
:CN110621988A
,2019-12-27
[10]
缺陷检查方法以及缺陷检查装置
[P].
长谷川正树
论文数:
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长谷川正树
;
小贯胜则
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小贯胜则
;
兼冈则幸
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兼冈则幸
;
村越久弥
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村越久弥
;
尾方智彦
论文数:
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0
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尾方智彦
.
中国专利
:CN108603850B
,2018-09-28
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