用于芯片的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421608887.8

申请日：

2024-07-09

公开(公告)号：

CN222838161U

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

王国强李一虎杜允陈彦宏王小龙姬晓春郑东

申请人：

四川海芯微科技有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市成华区航天路31号2栋7层1号附1号

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

成都清盛同创知识产权代理事务所(普通合伙) 51400

代理人：

王立清

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试装置 [P].

王锐 ;

夏群 .

中国专利 :CN203811771U ,2014-09-03

[2]

芯片测试装置 [P].

胥亚军 ;

洪晴 .

中国专利 :CN218336951U ,2023-01-17

[3]

芯片测试装置 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

陈东林 ;

郭航旗 ;

夏嵩 .

中国专利 :CN223155145U ,2025-07-25

[4]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[5]

芯片高温测试装置 [P].

嵇杰 .

中国专利 :CN222439618U ,2025-02-07

[6]

芯片的测试装置 [P].

王雷 ;

王鹏 ;

殷岚勇 .

中国专利 :CN223065452U ,2025-07-04

[7]

应用于芯片的测试装置 [P].

李庆顺 ;

王乐鹏 ;

黄兆秋 .

中国专利 :CN223346998U ,2025-09-16

[8]

芯片测试装置 [P].

刘琪 ;

吴伟军 ;

林德先 .

中国专利 :CN214374907U ,2021-10-08

[9]

芯片测试装置 [P].

嵇杰 ;

鲁刚强 .

中国专利 :CN221148846U ,2024-06-14

[10]

芯片测试装置 [P].

吴骁 .

中国专利 :CN220730364U ,2024-04-05

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