应用于芯片的测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421825627.6

申请日：

2024-07-31

公开(公告)号：

CN223346998U

公开(公告)日：

2025-09-16

发明(设计)人：

李庆顺王乐鹏黄兆秋

申请人：

珠海泰为电子有限公司

申请人地址：

519000 广东省珠海市高新区金唐路1号港湾1号科创园2栋4楼403室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

广东朗乾律师事务所 44291

代理人：

杨焕军

法律状态：

授权

国省代码：

广东省珠海市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-16	授权	授权

共 50 条

[1]

用于芯片的测试装置 [P].

王国强 ;

李一虎 ;

杜允 ;

陈彦宏 ;

王小龙 ;

姬晓春 ;

郑东 .

中国专利 :CN222838161U ,2025-05-06

[2]

应用于电路板测试的测试装置 [P].

蒋吉强 ;

叶博 ;

刘应兵 ;

罗蔺 ;

梁平茂 .

中国专利 :CN106707138A ,2017-05-24

[3]

芯片测试装置 [P].

王锐 ;

夏群 .

中国专利 :CN203811771U ,2014-09-03

[4]

芯片测试装置 [P].

胥亚军 ;

洪晴 .

中国专利 :CN218336951U ,2023-01-17

[5]

芯片测试装置 [P].

请求不公布姓名 ;

黄学楼 ;

陈东林 ;

郭航旗 ;

夏嵩 .

中国专利 :CN223155145U ,2025-07-25

[6]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180A ,2025-02-28

[7]

芯片测试机和芯片测试装置 [P].

陈群 ;

彭报 .

中国专利 :CN216133165U ,2022-03-25

[8]

芯片测试装置和芯片测试设备 [P].

孙成思 ;

孙日欣 ;

刘冲 .

中国专利 :CN217085181U ,2022-07-29

[9]

芯片测试装置以及芯片测试设备 [P].

曹晓康 ;

孟君威 ;

刘锐 .

中国专利 :CN119535180B ,2025-05-02

[10]

芯片测试压头和芯片测试装置 [P].

王攀 ;

段源鸿 ;

王华杲 .

中国专利 :CN211348543U ,2020-08-25

← 1 2 3 4 5 →