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实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202010757710.4
申请日：
2020-07-31
公开(公告)号：
CN114067899B
公开(公告)日：
2025-05-30
发明(设计)人：
李亚菲 华纯 华晶 刘欣洁
申请人：
华润微集成电路（无锡）有限公司
申请人地址：
214135 江苏省无锡市无锡太湖国际科技园菱湖大道180号-6
IPC主分类号：
G11C29/12
IPC分类号：
G11C29/14
代理机构：
上海智信专利代理有限公司 31002
代理人：
王洁
法律状态：
授权
国省代码：
江苏省 无锡市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-30 授权 授权
共 50 条
[1]
实现可快速测试的存储器内建自测试系统及其方法 [P]. 
李亚菲 ;
华纯 ;
华晶 ;
刘欣洁 .
中国专利 :CN114067899A ,2022-02-18
[2]
存储器的快速内建自测试系统 [P]. 
拜福君 ;
熊保玉 .
中国专利 :CN203910275U ,2014-10-29
[3]
存储器内建自测试方法 [P]. 
杨修 ;
唐杜娟 .
中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07
[4]
存储器的快速内建自测试系统及方法 [P]. 
拜福君 ;
熊保玉 .
中国专利 :CN103943152B ,2014-07-23
[5]
存储器内建自测试方法及其装置 [P]. 
孙圆圆 ;
王佳 .
中国专利 :CN117766010A ,2024-03-26
[6]
存储器内建自测试电路 [P]. 
李鸣 .
中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30
[7]
存储器的内建自测试系统 [P]. 
彭涛 .
中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16
[8]
存储器的内建自测试系统 [P]. 
王建群 ;
徐成宇 .
中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17
[9]
存储器的内建自测试系统的测试方法 [P]. 
王建群 ;
徐成宇 .
中国专利 :CN120164512A ,2025-06-17
[10]
存储器、内建自测试方法和测试系统 [P]. 
张瑞 .
中国专利 :CN118824336B ,2025-10-03
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