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一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202411562436.X
申请日：
2024-11-05
公开(公告)号：
CN119063639B
公开(公告)日：
2025-05-09
发明(设计)人：
徐卫红 徐晓东 赵德中 陈卫丰
申请人：
博裕纤维科技（苏州）有限公司
申请人地址：
215600 江苏省苏州市张家港市杨舍镇塘市李巷路39号
IPC主分类号：
G01B11/06
IPC分类号：
代理机构：
北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265
代理人：
宋勇
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2024-12-20 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20241105
2025-05-09 授权 授权
2024-12-03 公开 公开
共 50 条
[1]
一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
徐卫红 ;
徐晓东 ;
赵德中 ;
陈卫丰 .
中国专利 :CN119063639A ,2024-12-03
[2]
用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置及工艺 [P]. 
闫旭 ;
王健 ;
牛昱珂 .
中国专利 :CN119845163A ,2025-04-18
[3]
一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
姚理荣 ;
夏勇 ;
龙啸云 ;
徐思峻 ;
潘刚伟 ;
孙启龙 ;
张成蛟 .
中国专利 :CN113465519A ,2021-10-01
[4]
一种纳米纤维膜均匀性控制装置 [P]. 
夏建华 ;
姚理荣 .
中国专利 :CN214561429U ,2021-11-02
[5]
一种偏光片膜厚度均匀性检测装置 [P]. 
王雷 ;
袁博 ;
肖观学 .
中国专利 :CN209945263U ,2020-01-14
[6]
一种工件厚度均匀性检测装置 [P]. 
杨莉玫 ;
钟金福 ;
肖国郁 .
中国专利 :CN117433437A ,2024-01-23
[7]
一种薄膜厚度均匀性检测装置 [P]. 
姜冠琳 ;
潘阔 .
中国专利 :CN221859492U ,2024-10-18
[8]
一种工件厚度均匀性检测装置 [P]. 
杨莉玫 ;
钟金福 ;
肖国郁 .
中国专利 :CN117433437B ,2024-02-20
[9]
一种制备厚度可控的纳米纤维膜的装置及方法 [P]. 
毕胜 ;
孙业青 ;
卜镜元 ;
李钰 ;
张西京 ;
杜岩 ;
宋金会 .
中国专利 :CN111020719A ,2020-04-17
[10]
一种生产纳米纤维膜用检测装置 [P]. 
胡宝华 .
中国专利 :CN217111944U ,2022-08-02
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