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用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置及工艺

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510093847.7
申请日：
2025-01-21
公开(公告)号：
CN119845163A
公开(公告)日：
2025-04-18
发明(设计)人：
闫旭 王健 牛昱珂
申请人：
青岛大学
申请人地址：
266001 山东省青岛市市南区宁夏路308号
IPC主分类号：
G01B11/06
IPC分类号：
B08B6/00
代理机构：
青岛高思知识产权代理事务所(普通合伙) 37491
代理人：
李燕
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
山西省 临汾市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-06 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01B 11/06申请日:20250121
2025-04-18 公开 公开
共 50 条
[1]
一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
徐卫红 ;
徐晓东 ;
赵德中 ;
陈卫丰 .
中国专利 :CN119063639A ,2024-12-03
[2]
一种纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
徐卫红 ;
徐晓东 ;
赵德中 ;
陈卫丰 .
中国专利 :CN119063639B ,2025-05-09
[3]
一种用于纳米纤维膜的厚度均匀性检测装置 [P]. 
姚理荣 ;
夏勇 ;
龙啸云 ;
徐思峻 ;
潘刚伟 ;
孙启龙 ;
张成蛟 .
中国专利 :CN113465519A ,2021-10-01
[4]
一种纳米纤维膜均匀性控制装置 [P]. 
夏建华 ;
姚理荣 .
中国专利 :CN214561429U ,2021-11-02
[5]
纳米纤维膜增强复合材料的制造工艺和用于这种工艺的纳米纤维膜 [P]. 
保罗·卡诺尼科 ;
卡米内·卢西尼亚诺 ;
马可·莫里 .
:CN118103204A ,2024-05-28
[6]
一种偏光片膜厚度均匀性检测装置 [P]. 
王雷 ;
袁博 ;
肖观学 .
中国专利 :CN209945263U ,2020-01-14
[7]
膜层厚度均匀性的检测方法 [P]. 
董俊 ;
张顾斌 ;
王雷 .
中国专利 :CN113628985A ,2021-11-09
[8]
一种用于PVC复合膜厚度均匀性检测装置 [P]. 
陆标 ;
单体超 ;
王修军 .
中国专利 :CN221147534U ,2024-06-14
[9]
一种制备厚度可控的纳米纤维膜的装置及方法 [P]. 
毕胜 ;
孙业青 ;
卜镜元 ;
李钰 ;
张西京 ;
杜岩 ;
宋金会 .
中国专利 :CN111020719A ,2020-04-17
[10]
一种工件厚度均匀性检测装置 [P]. 
杨莉玫 ;
钟金福 ;
肖国郁 .
中国专利 :CN117433437A ,2024-01-23
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