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基于安卓Native层的硬件测试系统、硬件测试方法及存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202311444710.9
申请日：
2023-11-01
公开(公告)号：
CN119938416A
公开(公告)日：
2025-05-06
发明(设计)人：
胡银龙
申请人：
北京罗克维尔斯科技有限公司
申请人地址：
101300 北京市顺义区高丽营镇恒兴路4号院1幢103室（科技创新功能区）
IPC主分类号：
G06F11/22
IPC分类号：
G06F8/41
代理机构：
北京开阳星知识产权代理有限公司 11710
代理人：
王艳斌
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-23 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20231101
2025-05-06 公开 公开
共 50 条
[1]
基于硬件在环测试系统的测试方法、系统及存储介质 [P]. 
杜利民 ;
崔毅 ;
杜军 .
中国专利 :CN121144129A ,2025-12-16
[2]
硬件测试治具及硬件测试方法、设备和存储介质 [P]. 
刘靖 .
中国专利 :CN118937737A ,2024-11-12
[3]
辅助测试板及硬件测试系统 [P]. 
刘孟龙 .
中国专利 :CN112199242A ,2021-01-08
[4]
硬件测试方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
郭恒新 ;
淳帆 ;
喻盛江 ;
李亮 .
中国专利 :CN114546737A ,2022-05-27
[5]
硬件装置测试方法及硬件装置测试系统 [P]. 
简铭宏 .
中国专利 :CN101739321A ,2010-06-16
[6]
硬件测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
钱隆彦 ;
陈飞 ;
柯垒 .
中国专利 :CN118605439B ,2025-10-31
[7]
硬件测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
钱隆彦 ;
陈飞 ;
柯垒 .
中国专利 :CN118605439A ,2024-09-06
[8]
一种机台设备的硬件测试方法和硬件测试系统 [P]. 
牧净艳 .
中国专利 :CN106569943A ,2017-04-19
[9]
硬件在环测试方法、测试系统、电子设备及存储介质 [P]. 
全海强 ;
陈熠 ;
王晓 .
中国专利 :CN117852237A ,2024-04-09
[10]
硬件测试方法、装置、设备和存储介质 [P]. 
陈彦斌 ;
王文智 ;
庞婷婷 ;
刘欢 ;
范文锴 .
中国专利 :CN119782056B ,2025-08-15
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