高电子迁移率晶体管及其制备方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510226377.7
申请日
2025-02-27
公开(公告)号
CN120018545A
公开(公告)日
2025-05-16
发明(设计)人
张韵 何佳恒 谢树杰
申请人
中国科学院半导体研究所
申请人地址
100083 北京市海淀区清华东路甲35号
IPC主分类号
H10D30/47
IPC分类号
H10D30/01 H10D62/85 H10D62/824 H10D62/10 H10D64/23
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
李婉婉
法律状态
实质审查的生效
国省代码
北京市
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共 50 条
[1]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
李翔 .
中国专利 :CN119008689A ,2024-11-22
[2]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
李翔 .
中国专利 :CN119008689B ,2025-03-14
[3]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
李翔 .
中国专利 :CN119947168A ,2025-05-06
[4]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
李翔 .
中国专利 :CN121038320A ,2025-11-28
[5]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
郭炳磊 ;
葛永晖 ;
王群 ;
吕蒙普 ;
胡加辉 ;
李鹏 .
中国专利 :CN110021659A ,2019-07-16
[6]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
房育涛 ;
刘浪 ;
叶念慈 ;
张洁 .
中国专利 :CN115472671B ,2025-09-16
[7]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
房育涛 ;
刘浪 ;
叶念慈 ;
张洁 .
中国专利 :CN115472671A ,2022-12-13
[8]
一种高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
刘春文 ;
游正璋 ;
张文斌 ;
林恩再 ;
方照诒 ;
黄博崇 .
中国专利 :CN121240489A ,2025-12-30
[9]
高电子迁移率晶体管及驱动高电子迁移率晶体管的方法 [P]. 
全佑彻 ;
金钟燮 ;
朴基烈 ;
朴永焕 ;
吴在浚 ;
河种奉 ;
申在光 .
中国专利 :CN103730491A ,2014-04-16
[10]
高电子迁移率晶体管及其制备方法 [P]. 
洪威威 ;
王倩 ;
周飚 ;
胡加辉 .
中国专利 :CN110444598A ,2019-11-12