评估物理对象上的至少一个标记以计量检测对象的方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411668781.1

申请日：

2024-11-21

公开(公告)号：

CN120043502A

公开(公告)日：

2025-05-27

发明(设计)人：

C·多尼 T·吕德舍尔 S·米哈金 P·弗里德莱维奇

申请人：

罗伯特博世股份公司

申请人地址：

德国斯图加特

IPC主分类号：

G01C11/00

IPC分类号：

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司 11127

代理人：

赵鹏;王小东

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-27	公开	公开

共 50 条

[1]

用于扫描至少一个对象的方法和用于扫描至少一个对象的系统 [P].

A·费里舍恩 .

德国专利 :CN113009471B ,2025-12-02

[2]

用于扫描至少一个对象的方法和用于扫描至少一个对象的系统 [P].

A·费里舍恩 .

中国专利 :CN113009471A ,2021-06-22

[3]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

S·瓦鲁施 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

N·安德马尔 ;

A·沃格勒 ;

J-M·阿斯福尔 .

中国专利 :CN109416249A ,2019-03-01

[4]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

C·M·奥古恩 ;

C·哈恩 ;

M·埃伯斯帕奇 ;

I·布鲁德 ;

B·舍瓦 .

德国专利 :CN110392844B ,2024-03-12

[5]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

S·伊尔勒 ;

E·蒂尔 .

中国专利 :CN107003123A ,2017-08-01

[6]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

M·艾伯斯派克 ;

C·朗根施密德 ;

R·森德 ;

T·欧姆 ;

S·恒恩 ;

I·布鲁德 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 ;

P·希伦 ;

P·辛德勒 ;

C·伦纳茨 .

中国专利 :CN109964148A ,2019-07-02

[7]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

C·朗根施密德 .

中国专利 :CN108292175A ,2018-07-17

[8]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

R·森德 ;

I·布鲁德 ;

C·朗根施密德 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·瓦鲁施 .

中国专利 :CN109219891A ,2019-01-15

[9]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

S·瓦鲁施 ;

I·布鲁德 ;

R·森德 ;

N·安德马尔 ;

A·沃格勒 ;

J-M·阿斯福尔 .

中国专利 :CN109416402A ,2019-03-01

[10]

用于光学检测至少一个对象的检测器 [P].

S·瓦鲁施 ;

W·赫尔梅斯 ;

S·亨根 ;

R·森德 ;

I·布鲁德 .

中国专利 :CN109891265A ,2019-06-14

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