半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510496595.2
申请日
2025-04-21
公开(公告)号
CN120035122A
公开(公告)日
2025-05-23
发明(设计)人
吴永玉 高大为 苏婕
申请人
浙江创芯集成电路有限公司
申请人地址
311200 浙江省杭州市萧山区宁围街道平澜路2118号浙江大学杭州国际科创中心水博园区11幢4层-5层
IPC主分类号
H10B10/00
IPC分类号
代理机构
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31327
代理人
潘彦君
法律状态
公开
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
三重野文健 .
中国专利 :CN104952730B ,2015-09-30
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
李勇 .
中国专利 :CN109841524B ,2019-06-04
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
吴咏捷 ;
何彦忠 ;
魏惠娴 ;
游嘉榕 ;
许秉诚 ;
杨丰诚 ;
林仲德 .
中国专利 :CN114883268A ,2022-08-09
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
赵君红 .
中国专利 :CN114141873A ,2022-03-04
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
周飞 .
中国专利 :CN111293118A ,2020-06-16
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
张城龙 .
中国专利 :CN108122824A ,2018-06-05
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
刘继全 ;
龚春蕾 .
中国专利 :CN107039275B ,2017-08-11
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
赵猛 .
中国专利 :CN113394288A ,2021-09-14
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
朱一明 ;
王晓光 .
中国专利 :CN114695353A ,2022-07-01
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王伟 ;
苏波 ;
胡友存 ;
金吉松 .
中国专利 :CN112951719B ,2024-07-19