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一种多步相移相位测量的方法、装置和存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510421552.8
申请日：
2025-04-07
公开(公告)号：
CN119985507A
公开(公告)日：
2025-05-13
发明(设计)人：
张景程 杨硕 刘祥超
申请人：
深圳精智达技术股份有限公司
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村富安娜公司1号101工业园D栋1楼东
IPC主分类号：
G01N21/88
IPC分类号：
G01M11/02
代理机构：
深圳腾文知识产权代理有限公司 44680
代理人：
钟奉展
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-05-30 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20250407
2025-05-13 公开 公开
2025-08-22 授权 授权
共 50 条
[1]
一种多步相移相位测量的方法、装置和存储介质 [P]. 
张景程 ;
杨硕 ;
刘祥超 .
中国专利 :CN119985507B ,2025-08-22
[2]
一种归一化正交多步相移相位测量方法 [P]. 
吕晓旭 ;
李娇声 ;
钟丽云 ;
徐杰 ;
刘胜德 .
中国专利 :CN106643474B ,2017-05-10
[3]
一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质 [P]. 
张景程 ;
杨硕 ;
张滨 ;
刘祥超 .
中国专利 :CN120031882A ,2025-05-23
[4]
一种基于相位偏折术的缺陷检测方法、装置及存储介质 [P]. 
张景程 ;
杨硕 ;
张滨 ;
刘祥超 .
中国专利 :CN120031882B ,2025-08-15
[5]
基于GPU全并行AIA的相移相位提取方法、装置及存储介质 [P]. 
蔡长青 .
中国专利 :CN113532314A ,2021-10-22
[6]
相位测量方法、装置、设备及存储介质 [P]. 
宋梦洒 ;
廖茂竹 ;
易京亚 ;
魏晟 ;
温志庆 ;
周德成 .
中国专利 :CN117663987A ,2024-03-08
[7]
一种散斑干涉图的相位测量方法、系统、装置和存储介质 [P]. 
蔡长青 .
中国专利 :CN111256584B ,2020-06-09
[8]
相位测量方法、装置、设备、存储介质及产品 [P]. 
何荣江 ;
金花 ;
李文翱 ;
马骕 ;
王野 ;
张闯 ;
林文超 .
中国专利 :CN121036884A ,2025-11-28
[9]
一种改进的相移相位测量方法及系统 [P]. 
李娇声 ;
章勤男 .
中国专利 :CN113899305A ,2022-01-07
[10]
基于结构光相移的相位检测方法、电子装置及介质 [P]. 
杜路平 ;
杨爱萍 ;
吴绵满 ;
袁小聪 .
中国专利 :CN114894747A ,2022-08-12
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