缺陷检测方法及系统、存储介质、计算机设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510068484.1

申请日：

2025-01-15

公开(公告)号：

CN119985489A

公开(公告)日：

2025-05-13

发明(设计)人：

张武杰

申请人：

中科慧远半导体技术（广东）有限公司中科慧远视觉技术（洛阳）有限公司中科慧远视觉技术（北京）有限公司

申请人地址：

523403 广东省东莞市松山湖园区工业西三路11号1栋303室

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

北京中强智尚知识产权代理有限公司 11448

代理人：

孙宏翼

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-30	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20250115
2025-05-13	公开	公开

共 50 条

[1]

缺陷检测方法及装置、计算机设备、存储介质 [P].

谭毅 ;

胡建强 ;

马超 ;

唐博 ;

束家龙 ;

雷屹坤 .

中国专利 :CN119130955A ,2024-12-13

[2]

缺陷检测方法、系统、计算机设备及存储介质 [P].

陈亮 ;

杜思意 ;

杨凯 ;

黄帅 ;

徐睿 ;

张鹏 ;

张雄 ;

周盛华 ;

周鹏威 ;

沈洋 ;

李方浩 ;

王志强 .

中国专利 :CN121213556A ,2025-12-26

[3]

缺陷检测方法、装置、存储介质、计算机设备及检测设备 [P].

宋梦琦 ;

罗亨亮 ;

张武杰 .

中国专利 :CN119648634A ,2025-03-18

[4]

缺陷检测方法、系统、计算机设备和存储介质 [P].

李成 ;

钟莉娜 ;

张维成 .

中国专利 :CN121190379A ,2025-12-23

[5]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

周扬 ;

李睿宇 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661092A ,2023-01-31

[6]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

陈晓炬 ;

杜松 ;

孙晓嫣 ;

叶美仪 .

美国专利 :CN118446982A ,2024-08-06

[7]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

牛临潇 ;

李诚 .

中国专利 :CN112288723A ,2021-01-29

[8]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及存储介质 [P].

周凯 ;

廖方诚 ;

张孟 ;

吴小飞 ;

曾江东 ;

王珂 ;

王文涛 ;

江银凤 .

中国专利 :CN109300127B ,2019-02-01

[9]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鹏光 ;

冯嘉佩 ;

徐开元 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06

[10]

缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P].

王楠 ;

王远 ;

刘枢 ;

吕江波 ;

沈小勇 .

中国专利 :CN115661140A ,2023-01-31

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