X射线摄像系统的X射线检测器

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202380075458.0

申请日：

2023-10-24

公开(公告)号：

CN120129830A

公开(公告)日：

2025-06-10

发明(设计)人：

小竹诚西山好信馆野阳介龟崎浩司川崎秀一

申请人：

日本结晶光学株式会社

申请人地址：

日本群马县

IPC主分类号：

G01N23/04

IPC分类号：

G01T7/00

代理机构：

北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290

代理人：

鹿屹;王维玉

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-10	公开	公开
2025-08-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 23/04申请日:20231024

共 50 条

[1]

X射线摄像系统的X射线检测器 [P].

小竹诚 ;

西山好信 ;

馆野阳介 ;

龟崎浩司 ;

川崎秀一 .

日本专利 :CN120153248A ,2025-06-13

[2]

X射线检测器 [P].

金永翌 ;

朴珍右 ;

曹银廷 .

中国专利 :CN105640576A ,2016-06-08

[3]

X射线检测器 [P].

申东起 ;

金根焕 ;

崔星勋 .

韩国专利 :CN118541623A ,2024-08-23

[4]

X射线检测器和X射线成像系统 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN202654139U ,2013-01-09

[5]

X射线检测器和X射线成像系统 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN103376470A ,2013-10-30

[6]

X射线检测器以及X射线CT装置 [P].

小林洋之 .

中国专利 :CN102686161A ,2012-09-19

[7]

X射线辐射的检测和X射线检测器系统 [P].

E.戈德尔 ;

D.尼德洛纳 ;

M.斯特拉斯伯格 ;

S.沃思 ;

P.哈肯施密德 ;

S.卡普勒 ;

B.克赖斯勒 ;

M.拉巴延德英扎 ;

M.莱因万德 ;

C.施勒特 .

中国专利 :CN104641256B ,2015-05-20

[8]

X射线检测器的框架和X射线检测器 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN202776332U ,2013-03-13

[9]

X射线检测器的框架和X射线检测器 [P].

陈涛 .

中国专利 :CN103371839A ,2013-10-30

[10]

X射线检测器、用于操作X射线检测器的方法以及包括X射线检测器的X射线成像装置 [P].

柳在彦 .

韩国专利 :CN118119862A ,2024-05-31

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