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产品缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510160706.2
申请日：
2025-02-13
公开(公告)号：
CN120182184A
公开(公告)日：
2025-06-20
发明(设计)人：
刘士杰 王远 刘枢
申请人：
深圳思谋信息科技有限公司
申请人地址：
518051 广东省深圳市前海深港合作区南山街道前海大道前海嘉里商务中心四期T2写字楼2201A
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06T7/73 G06T7/90 G06V10/10 G06V20/64
代理机构：
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人：
张亚楼
法律状态：
公开
国省代码：
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-20 公开 公开
2025-07-08 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250213
共 50 条
[1]
产品缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
于瑞涛 ;
高巍 .
中国专利 :CN112712513A ,2021-04-27
[2]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鹏光 ;
冯嘉佩 ;
徐开元 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118447001A ,2024-08-06
[3]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
周震东 ;
金韵 ;
袁磊 ;
莫宇 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN118799248A ,2024-10-18
[4]
缺陷检测方法、装置、计算机设备及计算机可读存储介质 [P]. 
莫宇 ;
金韵 ;
刘枢 ;
吕江波 ;
沈小勇 .
中国专利 :CN119515761A ,2025-02-25
[5]
缺陷检测方法及装置、计算机可读存储介质 [P]. 
刘新辉 .
中国专利 :CN113066043A ,2021-07-02
[6]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
朱姗姗 ;
彭奕文 ;
王佳 .
中国专利 :CN111882541A ,2020-11-03
[7]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
吴凯 ;
刘阿灶 ;
李宗缘 ;
王鑫光 ;
姚飙 ;
刘斌 ;
严云飞 .
中国专利 :CN117276112B ,2024-04-12
[8]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
黄建峰 ;
林义闽 ;
易万鑫 ;
廉士国 .
中国专利 :CN114596243A ,2022-06-07
[9]
缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P]. 
陈鲁 ;
肖遥 ;
佟异 ;
张嵩 .
中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12
[10]
产品缺陷检测方法、相关装置及计算机可读存储介质 [P]. 
李丽丽 ;
李红霞 .
中国专利 :CN117115076B ,2025-11-14
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