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自動分析装置の制御方法、自動分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20230556286
申请日
:
2022-10-11
公开(公告)号
:
JP7688149B2
公开(公告)日
:
2025-06-03
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N35/02
IPC分类号
:
G01N1/10
G01N1/40
G01N35/00
G01N35/04
G01N35/10
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[41]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6898943B2
,2021-07-07
[42]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
YABUTANI CHIE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
YABUTANI CHIE
;
SUZUKI NAOTO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
SUZUKI NAOTO
;
MAKINO AKIHISA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
MAKINO AKIHISA
.
日本专利
:JP2024169609A
,2024-12-05
[43]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7703097B2
,2025-07-04
[44]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5948173B2
,2016-07-06
[45]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016152305A1
,2017-11-16
[46]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022058965A
,2022-04-12
[47]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
YABUTANI CHIE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
YABUTANI CHIE
;
SUZUKI NAOTO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
SUZUKI NAOTO
;
MAKINO AKIHISA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HITACHI HIGH TECH CORP
HITACHI HIGH TECH CORP
MAKINO AKIHISA
.
日本专利
:JP2024169608A
,2024-12-05
[48]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7193564B2
,2022-12-20
[49]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6403206B2
,2018-10-10
[50]
自動分析装置及び自動分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7725621B2
,2025-08-19
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