一种芯片高低温测试机

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421788450.7

申请日：

2024-07-26

公开(公告)号：

CN223022316U

公开(公告)日：

2025-06-24

发明(设计)人：

董法武李明希

申请人：

广东腾昕检测技术有限公司

申请人地址：

523000 广东省东莞市桥头镇桥头桥龙路482号301室

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04

代理机构：

东莞创博知识产权代理事务所(普通合伙) 44803

代理人：

陈柏陶

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-24	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片高低温测试机构 [P].

李勇 ;

刘湘鹏 ;

刘振华 .

中国专利 :CN217981743U ,2022-12-06

[2]

一种高低温拉力测试机 [P].

李海丽 .

中国专利 :CN216117145U ,2022-03-22

[3]

一种高低温测试机 [P].

程焕宗 ;

朱敏荣 ;

朱志扬 .

中国专利 :CN102411071B ,2012-04-11

[4]

高低温老化测试机 [P].

黄爱科 ;

金承标 ;

廖小波 ;

蒋琦 ;

罗鑫 .

中国专利 :CN217981739U ,2022-12-06

[5]

一种接着剂高低温测试机 [P].

黄磊 ;

任曙彪 ;

彭琪 ;

高辉云 ;

黄露露 ;

张更勤 .

中国专利 :CN218350043U ,2023-01-20

[6]

一种芯片高低温测试设备 [P].

崔建宇 ;

黄平刚 ;

周代强 .

中国专利 :CN221174881U ,2024-06-18

[7]

光模块高低温测试机构 [P].

徐卫国 ;

龚爱时 ;

吴小军 .

中国专利 :CN215767593U ,2022-02-08

[8]

一种高低温拉力测试机 [P].

苏健 ;

叶志坚 ;

周柏平 ;

陈涛 ;

黄守强 .

中国专利 :CN213041624U ,2021-04-23

[9]

芯片高低温测试装置 [P].

刘善浩 ;

王玉龙 ;

顾良波 ;

罗斌 .

中国专利 :CN114545126A ,2022-05-27

[10]

一种用于高低温测试机的测试设备 [P].

刘瑜 ;

陈磊 ;

王金阳 .

中国专利 :CN222438616U ,2025-02-07

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