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半导体结构形成方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202011429562.X
申请日
:
2020-12-09
公开(公告)号
:
CN114613675B
公开(公告)日
:
2025-06-24
发明(设计)人
:
崔明
申请人
:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址
:
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
:
H10D30/01
IPC分类号
:
H10D30/66
H10D62/17
代理机构
:
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
:
吴敏
法律状态
:
授权
国省代码
:
上海市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-06-24
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体结构形成方法
[P].
崔明
论文数:
0
引用数:
0
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0
崔明
.
中国专利
:CN114613675A
,2022-06-10
[2]
半导体结构形成方法
[P].
卢仁祥
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卢仁祥
;
蔡宗翰
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蔡宗翰
;
张世勳
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0
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张世勳
.
中国专利
:CN110610989A
,2019-12-24
[3]
半导体结构形成方法
[P].
何永根
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0
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0
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0
何永根
.
中国专利
:CN105655252B
,2016-06-08
[4]
半导体结构形成方法及半导体结构
[P].
卢仁祥
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
卢仁祥
;
蔡宗翰
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
蔡宗翰
;
张世勳
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机构:
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾积体电路制造股份有限公司
张世勳
.
中国专利
:CN110610989B
,2024-10-29
[5]
半导体结构形成方法
[P].
刘中元
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刘中元
;
赵鹏
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赵鹏
;
马孝田
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马孝田
.
中国专利
:CN111725068A
,2020-09-29
[6]
半导体结构形成方法
[P].
刘中元
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
刘中元
;
赵鹏
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
赵鹏
;
马孝田
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机构:
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
马孝田
.
中国专利
:CN111725068B
,2024-06-18
[7]
半导体结构形成方法
[P].
林宗德
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林宗德
;
彭琬婷
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彭琬婷
;
黄仁德
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黄仁德
.
中国专利
:CN108281355A
,2018-07-13
[8]
半导体结构形成方法
[P].
沈思杰
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沈思杰
;
刘宪周
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刘宪周
;
苟鸿雁
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苟鸿雁
.
中国专利
:CN102723278B
,2012-10-10
[9]
半导体结构形成方法
[P].
韩秋华
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韩秋华
.
中国专利
:CN105632908B
,2016-06-01
[10]
半导体结构形成方法
[P].
宁先捷
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宁先捷
;
王新鹏
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王新鹏
.
中国专利
:CN104576539A
,2015-04-29
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