半导体结构形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011429562.X
申请日
2020-12-09
公开(公告)号
CN114613675B
公开(公告)日
2025-06-24
发明(设计)人
崔明
申请人
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址
201203 上海市浦东新区张江路18号
IPC主分类号
H10D30/01
IPC分类号
H10D30/66 H10D62/17
代理机构
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人
吴敏
法律状态
授权
国省代码
上海市
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共 50 条
[1]
半导体结构形成方法 [P]. 
崔明 .
中国专利 :CN114613675A ,2022-06-10
[2]
半导体结构形成方法 [P]. 
卢仁祥 ;
蔡宗翰 ;
张世勳 .
中国专利 :CN110610989A ,2019-12-24
[3]
半导体结构形成方法 [P]. 
何永根 .
中国专利 :CN105655252B ,2016-06-08
[4]
半导体结构形成方法及半导体结构 [P]. 
卢仁祥 ;
蔡宗翰 ;
张世勳 .
中国专利 :CN110610989B ,2024-10-29
[5]
半导体结构形成方法 [P]. 
刘中元 ;
赵鹏 ;
马孝田 .
中国专利 :CN111725068A ,2020-09-29
[6]
半导体结构形成方法 [P]. 
刘中元 ;
赵鹏 ;
马孝田 .
中国专利 :CN111725068B ,2024-06-18
[7]
半导体结构形成方法 [P]. 
林宗德 ;
彭琬婷 ;
黄仁德 .
中国专利 :CN108281355A ,2018-07-13
[8]
半导体结构形成方法 [P]. 
沈思杰 ;
刘宪周 ;
苟鸿雁 .
中国专利 :CN102723278B ,2012-10-10
[9]
半导体结构形成方法 [P]. 
韩秋华 .
中国专利 :CN105632908B ,2016-06-01
[10]
半导体结构形成方法 [P]. 
宁先捷 ;
王新鹏 .
中国专利 :CN104576539A ,2015-04-29