单分子传感阵列模块、定量分析芯片及定量分析方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411591003.7

申请日：

2024-11-08

公开(公告)号：

CN119470368B

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

胡春瑞潘诚达李骁吴凡邹燕萨普·科曼陈昌

申请人：

上海近观科技有限责任公司

申请人地址：

201800 上海市嘉定区环城路2222号1幢J

IPC主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N21/65 G01N21/01 B01L3/00

代理机构：

上海光华专利事务所(普通合伙) 31219

代理人：

贺妮妮

法律状态：

授权

国省代码：

黑龙江省双鸭山市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-04	授权	授权
2025-03-07	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/64申请日:20241108
2025-02-18	公开	公开

共 50 条

[1]

单分子传感阵列模块、定量分析芯片及定量分析方法 [P].

胡春瑞 ;

潘诚达 ;

李骁 ;

吴凡 ;

邹燕 ;

萨普·科曼 ;

陈昌 .

中国专利 :CN119470368A ,2025-02-18

[2]

定量分析方法和定量分析装置 [P].

藤部康弘 ;

相本道宏 .

日本专利 :CN119768683A ,2025-04-04

[3]

定量分析方法及定量分析装置 [P].

坂本雄纪 .

日本专利 :CN116087398B ,2025-04-08

[4]

定量分析方法及び定量分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP7694342B2 ,2025-06-18

[5]

定量分析方法 [P].

朴喜用 ;

郭修荣 ;

赵惠星 .

中国专利 :CN107340309A ,2017-11-10

[6]

定量分析方法 [P].

朱爱淑 ;

刘海军 ;

徐友海 ;

王秀萍 ;

袁伟 .

中国专利 :CN105699499A ,2016-06-22

[7]

晶相定量分析装置、晶相定量分析方法及晶相定量分析程序 [P].

虎谷秀穂 ;

室山知宏 .

中国专利 :CN111033246A ,2020-04-17

[8]

定量分析方法、定量分析程序及荧光X射线分析装置 [P].

田中伸 .

中国专利 :CN112930478A ,2021-06-08

[9]

结晶相定量分析装置、结晶相定量分析方法、以及结晶相定量分析程序 [P].

虎谷秀穗 ;

姬田章宏 .

中国专利 :CN109073574A ,2018-12-21

[10]

使用传感器的定量分析方法和定量分析装置 [P].

池滝和雄 ;

井上洋一 .

中国专利 :CN102012389B ,2011-04-13

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