软件测试系统、方法、电子设备及存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210464684.5
申请日
2022-04-29
公开(公告)号
CN114896146B
公开(公告)日
2025-07-04
发明(设计)人
刘红豆 崔佳超 刘晓辉
申请人
西门子(中国)有限公司
申请人地址
100102 北京市朝阳区望京中环南路7号
IPC主分类号
G06F11/3668
IPC分类号
G06F11/3698
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
北京市 市辖区
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共 50 条
[1]
软件测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P]. 
刘红豆 ;
崔佳超 ;
刘晓辉 .
中国专利 :CN114896146A ,2022-08-12
[2]
软件测试方法、软件测试系统、电子设备及存储介质 [P]. 
黄贵龙 ;
何志平 ;
黄志鹏 .
中国专利 :CN115328774A ,2022-11-11
[3]
测试系统、测试方法、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN120723627A ,2025-09-30
[4]
一种软件测试系统、方法、电子设备及存储介质 [P]. 
请求不公布姓名 ;
请求不公布姓名 .
中国专利 :CN119883932A ,2025-04-25
[5]
软件测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
戴婉君 ;
方晓霖 .
中国专利 :CN113326186A ,2021-08-31
[6]
软件系统接口测试方法、系统、电子设备及存储介质 [P]. 
李振刚 ;
金剑 ;
邓小宁 ;
李凤荣 ;
孙志强 ;
王萌 .
中国专利 :CN119336638A ,2025-01-21
[7]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
杨晓建 .
中国专利 :CN115599674A ,2023-01-13
[8]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈松林 .
中国专利 :CN115543837B ,2025-08-01
[9]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈松林 .
中国专利 :CN115543837A ,2022-12-30
[10]
软件测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘新磊 .
中国专利 :CN110134593A ,2019-08-16