自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510343447.7

申请日：

2025-03-21

公开(公告)号：

CN120256303A

公开(公告)日：

2025-07-04

发明(设计)人：

楼珊林咸芳潘红民胡靖宣

申请人：

杭州高特电子设备股份有限公司

申请人地址：

310000 浙江省杭州市余杭区五常街道爱橙街198号中电海康集团有限公司海创园区F楼2层201室

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

曹延鹏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250321
2025-07-04	公开	公开

共 50 条

[1]

自动化测试方法、系统、电子设备和存储介质 [P].

汪立夫 ;

李成霞 ;

李赛飞 .

中国专利 :CN120686047A ,2025-09-23

[2]

自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

钟锋浩 ;

金睿 ;

李泽宇 ;

宋成伟 .

中国专利 :CN119149319B ,2025-06-20

[3]

自动化测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

李家敏 ;

严桂红 .

中国专利 :CN111462811A ,2020-07-28

[4]

自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P].

钟锋浩 ;

金睿 ;

李泽宇 ;

宋成伟 .

中国专利 :CN119149319A ,2024-12-17

[5]

自动化测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

易会英 ;

廖荣富 .

中国专利 :CN115098390A ,2022-09-23

[6]

自动化测试方法、自动化测试装置、电子设备、存储介质 [P].

孙明星 ;

吴丹 ;

黎树敏 ;

黄钦 .

中国专利 :CN115562991A ,2023-01-03

[7]

自动化测试方法、装置、电子设备、存储介质 [P].

孙明星 ;

王雯琴 ;

顾凯鸣 .

中国专利 :CN108763097A ,2018-11-06

[8]

自动化测试方法、装置、测试平台、电子设备和存储介质 [P].

崔俊 ;

赵增乾 ;

李常坤 .

中国专利 :CN113835993A ,2021-12-24

[9]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王成 .

中国专利 :CN107704398A ,2018-02-16

[10]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王博 .

中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26

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