自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202411622276.3
申请日
2024-11-14
公开(公告)号
CN119149319B
公开(公告)日
2025-06-20
发明(设计)人
钟锋浩 金睿 李泽宇 宋成伟
申请人
杭州长川科技股份有限公司
申请人地址
310056 浙江省杭州市滨江区聚才路410号
IPC主分类号
G06F11/22
IPC分类号
G06F11/263
代理机构
北京思源智汇知识产权代理有限公司 11657
代理人
李林莎
法律状态
授权
国省代码
浙江省 杭州市
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共 50 条
[1]
自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
钟锋浩 ;
金睿 ;
李泽宇 ;
宋成伟 .
中国专利 :CN119149319A ,2024-12-17
[2]
自动化测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
李家敏 ;
严桂红 .
中国专利 :CN111462811A ,2020-07-28
[3]
自动化测试方法、装置、电子设备和存储介质 [P]. 
楼珊 ;
林咸芳 ;
潘红民 ;
胡靖宣 .
中国专利 :CN120256303A ,2025-07-04
[4]
自动化测试方法、装置、存储介质和电子设备 [P]. 
易会英 ;
廖荣富 .
中国专利 :CN115098390A ,2022-09-23
[5]
自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
曹偲 ;
张文 ;
胡涛 ;
施红 ;
刘金龙 .
中国专利 :CN112463605B ,2024-03-15
[6]
自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘斌 ;
焦凤霞 ;
徐鑫 ;
魏明瑞 ;
赵国志 .
中国专利 :CN112099472A ,2020-12-18
[7]
自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P]. 
曹偲 ;
张文 ;
胡涛 ;
施红 ;
刘金龙 .
中国专利 :CN112463605A ,2021-03-09
[8]
自动化测试方法、自动化测试装置、电子设备、存储介质 [P]. 
孙明星 ;
吴丹 ;
黎树敏 ;
黄钦 .
中国专利 :CN115562991A ,2023-01-03
[9]
自动化测试方法、装置、电子设备、存储介质 [P]. 
孙明星 ;
王雯琴 ;
顾凯鸣 .
中国专利 :CN108763097A ,2018-11-06
[10]
自动化测试方法、装置、测试平台、电子设备和存储介质 [P]. 
崔俊 ;
赵增乾 ;
李常坤 .
中国专利 :CN113835993A ,2021-12-24