自检测电路系统、自检测芯片及电路系统自检测方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202011126362.7
申请日
2020-10-20
公开(公告)号
CN114384341B
公开(公告)日
2025-07-04
发明(设计)人
肖丽荣
申请人
炬芯科技股份有限公司
申请人地址
519085 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技四路1号1#厂房一层C区
IPC主分类号
G01R31/00
IPC分类号
G01R31/28 G01R31/70
代理机构
深圳君信诚知识产权代理事务所(普通合伙) 44636
代理人
刘伟
法律状态
授权
国省代码
广东省 珠海市
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共 50 条
[1]
自检测电路系统、自检测芯片及电路系统自检测方法 [P]. 
肖丽荣 .
中国专利 :CN114384341A ,2022-04-22
[2]
芯片自检电路、检测电路、芯片及自检方法 [P]. 
黄冠中 .
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[3]
认证芯片及自检测电路 [P]. 
陈亮 ;
郑杨青 ;
颜世桃 ;
张道亮 .
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[4]
存储装置的自检测方法、自检测电路、存储装置及系统 [P]. 
景乃锋 ;
尹琛 ;
王琴 ;
蒋剑飞 ;
毛志刚 .
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[5]
用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统 [P]. 
陆宇 ;
陈昭 ;
程玉华 .
中国专利 :CN107544011A ,2018-01-05
[6]
存储装置的自检测方法、自检测电路、存储装置及系统 [P]. 
景乃锋 ;
尹琛 ;
王琴 ;
蒋剑飞 ;
毛志刚 .
中国专利 :CN119905130A ,2025-04-29
[7]
一种语音电路系统自检方法 [P]. 
杨圣均 ;
王旭 .
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[8]
PRBS产生和自检测系统、PRBS自检测方法 [P]. 
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陈泽 ;
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中国专利 :CN117783836B ,2024-06-11
[9]
PRBS产生和自检测系统、PRBS自检测方法 [P]. 
姚评 ;
陈泽 ;
刘元创 .
中国专利 :CN117783836A ,2024-03-29
[10]
一种DCU电路自检系统及检测方法 [P]. 
高崧林 ;
王柯 ;
朱磊磊 ;
高发廷 ;
刘浩 ;
黄少文 .
中国专利 :CN108896901B ,2018-11-27