用于预测芯片寿命的芯片内建自检电路系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201610464305.7

申请日：

2016-06-24

公开(公告)号：

CN107544011A

公开(公告)日：

2018-01-05

发明(设计)人：

陆宇陈昭程玉华

申请人：

申请人地址：

201203 上海市浦东新区盛夏路608号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-05	公开	公开
2018-01-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20160624
2020-03-27	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20180105

共 50 条

[1]

自检测电路系统、自检测芯片及电路系统自检测方法 [P].

肖丽荣 .

中国专利 :CN114384341B ,2025-07-04

[2]

自检测电路系统、自检测芯片及电路系统自检测方法 [P].

肖丽荣 .

中国专利 :CN114384341A ,2022-04-22

[3]

芯片自检电路、检测电路、芯片及自检方法 [P].

黄冠中 .

中国专利 :CN113376509A ,2021-09-10

[4]

芯片自检方法、自检电路、芯片、部件及交通设备 [P].

丰斌 .

中国专利 :CN118858881A ,2024-10-29

[5]

具有内建自检电路的片载系统及其自检方法 [P].

辛宗哲 ;

金钟镐 ;

罗海英 ;

曹奇源 .

中国专利 :CN1661388A ,2005-08-31

[6]

一种电路自检方法、电路及芯片 [P].

王宇建 ;

杨威 ;

吴永强 ;

徐基明 .

中国专利 :CN113970689A ,2022-01-25

[7]

芯片连焊自检测方法、系统、介质及芯片 [P].

吴俊杰 ;

王立新 ;

游业斌 ;

何霖 .

中国专利 :CN114184936A ,2022-03-15

[8]

一种用于功放系统的自检电路及专用集成电路芯片 [P].

陈晓涯 .

中国专利 :CN212872769U ,2021-04-02

[9]

自检电路及自检方法、安全芯片和电子卡 [P].

李立 ;

杨磊 ;

邓锋 .

中国专利 :CN112052484A ,2020-12-08

[10]

用于非接触卡类芯片的编程失败自检测电路及自检测方法 [P].

徐艺均 .

中国专利 :CN107808685B ,2018-03-16

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