半导体结构及其形成方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202111067349.3
申请日
2021-09-13
公开(公告)号
CN115810577B
公开(公告)日
2025-07-04
发明(设计)人
卢经文 王晓玲
申请人
长鑫存储技术有限公司
申请人地址
230000 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
IPC主分类号
H01L21/762
IPC分类号
H01L21/764 H10B12/00
代理机构
代理人
法律状态
授权
国省代码
安徽省 宣城市
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共 50 条
[1]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
卢经文 ;
王晓玲 .
中国专利 :CN115810578B ,2025-09-26
[2]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
卢经文 .
中国专利 :CN113871342A ,2021-12-31
[3]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
卢经文 .
中国专利 :CN113871343A ,2021-12-31
[4]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
卢经文 .
中国专利 :CN113871342B ,2024-12-10
[5]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
卢经文 .
中国专利 :CN113871343B ,2024-12-06
[6]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
黄娟娟 ;
白杰 .
中国专利 :CN113675142A ,2021-11-19
[7]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
江文涌 .
中国专利 :CN112736036B ,2024-10-18
[8]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
吴晗 .
中国专利 :CN113517289A ,2021-10-19
[9]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
杨波 .
中国专利 :CN112864096B ,2021-05-28
[10]
半导体结构及其形成方法 [P]. 
王恒宇 ;
曹雪婷 ;
李阳 ;
庞洪荣 ;
仇峰 .
中国专利 :CN119922974A ,2025-05-02