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探针卡结构及探针卡测试方法
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202211317312.6
申请日：
2022-10-26
公开(公告)号：
CN115684678B
公开(公告)日：
2025-07-15
发明(设计)人：
李圣子
崔鹏
季鸣
邓攀
申请人：
上海积塔半导体有限公司
申请人地址：
201208 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区临港新片区云水路600号
IPC主分类号：
G01R1/067
IPC分类号：
G01R31/26
代理机构：
北京清大紫荆知识产权代理有限公司 11718
代理人：
黄贞君;黎飞鸿
法律状态：
授权
国省代码：
上海市
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2025-07-15 | 授权 | 授权 |