探针测试卡

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN01203939.X

申请日：

2001-02-05

公开(公告)号：

CN2466661Y

公开(公告)日：

2001-12-19

发明(设计)人：

陈文祺

申请人：

申请人地址：

中国台湾

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3128 H01L2166

代理机构：

北京集佳专利商标事务所

代理人：

王学强

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-04-20	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101063890631 IPC(主分类):G01R 1/073 专利号:ZL01203939X 申请日:20010205 授权公告日:20011219 终止日期:20100205
2001-12-19	授权	授权

共 50 条

[1]

探针测试卡的探针包覆装置 [P].

陈文祺 .

中国专利 :CN1241023C ,2003-04-30

[2]

探针测试卡及其制造方法 [P].

金庚珍 ;

徐载亨 .

韩国专利 :CN113030536B ,2024-08-02

[3]

一种探针测试卡 [P].

殷卫中 ;

王政烈 .

中国专利 :CN101470135A ,2009-07-01

[4]

探针测试卡及其制造方法 [P].

金庚珍 ;

徐载亨 .

中国专利 :CN113030536A ,2021-06-25

[5]

测试卡的探针结构 [P].

吕文裕 .

中国专利 :CN2906629Y ,2007-05-30

[6]

探针元件及其测试卡 [P].

洪文兴 .

中国专利 :CN1683933A ,2005-10-19

[7]

探针卡结构及探针卡测试方法 [P].

李圣子 ;

崔鹏 ;

季鸣 ;

邓攀 .

中国专利 :CN115684678B ,2025-07-15

[8]

探针卡结构及探针卡测试方法 [P].

李圣子 ;

崔鹏 ;

季鸣 ;

邓攀 .

中国专利 :CN115684678A ,2023-02-03

[9]

具有集成的霍尔测量特征的半导体探针测试卡 [P].

J.博斯特延齐克 ;

D.卡默兰德 ;

C.奥斯特迈尔 ;

G.普雷希特尔 ;

G.拉青斯基 .

中国专利 :CN108872686B ,2018-11-23

[10]

功率芯片测试探针卡 [P].

张宛平 ;

安奎 .

中国专利 :CN202093062U ,2011-12-28

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