探针测试卡及其制造方法

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专利类型
发明
申请号
CN202010620492.X
申请日
2020-07-01
公开(公告)号
CN113030536A
公开(公告)日
2021-06-25
发明(设计)人
金庚珍 徐载亨
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
北京弘权知识产权代理有限公司 11363
代理人
郭放;许伟群
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[1]
探针测试卡及其制造方法 [P]. 
金庚珍 ;
徐载亨 .
韩国专利 :CN113030536B ,2024-08-02
[2]
探针测试卡 [P]. 
陈文祺 .
中国专利 :CN2466661Y ,2001-12-19
[3]
探针测试卡的探针包覆装置 [P]. 
陈文祺 .
中国专利 :CN1241023C ,2003-04-30
[4]
探针元件及其测试卡 [P]. 
洪文兴 .
中国专利 :CN1683933A ,2005-10-19
[5]
一种探针测试卡 [P]. 
殷卫中 ;
王政烈 .
中国专利 :CN101470135A ,2009-07-01
[6]
探针卡结构及探针卡测试方法 [P]. 
李圣子 ;
崔鹏 ;
季鸣 ;
邓攀 .
中国专利 :CN115684678B ,2025-07-15
[7]
探针卡结构及探针卡测试方法 [P]. 
李圣子 ;
崔鹏 ;
季鸣 ;
邓攀 .
中国专利 :CN115684678A ,2023-02-03
[8]
测试卡的探针结构 [P]. 
吕文裕 .
中国专利 :CN2906629Y ,2007-05-30
[9]
测试卡的探针结构 [P]. 
吕文裕 .
中国专利 :CN1869714A ,2006-11-29
[10]
半导体元件测试卡及其垂直式探针 [P]. 
刘俊良 ;
陈治坤 .
中国专利 :CN102375081A ,2012-03-14