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探针测试卡及其制造方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010620492.X
申请日
:
2020-07-01
公开(公告)号
:
CN113030536A
公开(公告)日
:
2021-06-25
发明(设计)人
:
金庚珍
徐载亨
申请人
:
申请人地址
:
韩国京畿道
IPC主分类号
:
G01R1073
IPC分类号
:
代理机构
:
北京弘权知识产权代理有限公司 11363
代理人
:
郭放;许伟群
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-07-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 1/073 申请日:20200701
2021-06-25
公开
公开
共 50 条
[1]
探针测试卡及其制造方法
[P].
金庚珍
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
金庚珍
;
徐载亨
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
爱思开海力士有限公司
爱思开海力士有限公司
徐载亨
.
韩国专利
:CN113030536B
,2024-08-02
[2]
探针测试卡
[P].
陈文祺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈文祺
.
中国专利
:CN2466661Y
,2001-12-19
[3]
探针测试卡的探针包覆装置
[P].
陈文祺
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
陈文祺
.
中国专利
:CN1241023C
,2003-04-30
[4]
探针元件及其测试卡
[P].
洪文兴
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
洪文兴
.
中国专利
:CN1683933A
,2005-10-19
[5]
一种探针测试卡
[P].
殷卫中
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
殷卫中
;
王政烈
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王政烈
.
中国专利
:CN101470135A
,2009-07-01
[6]
探针卡结构及探针卡测试方法
[P].
李圣子
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
李圣子
;
崔鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
崔鹏
;
季鸣
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
季鸣
;
邓攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
上海积塔半导体有限公司
上海积塔半导体有限公司
邓攀
.
中国专利
:CN115684678B
,2025-07-15
[7]
探针卡结构及探针卡测试方法
[P].
李圣子
论文数:
0
引用数:
0
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0
李圣子
;
崔鹏
论文数:
0
引用数:
0
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0
崔鹏
;
季鸣
论文数:
0
引用数:
0
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0
季鸣
;
邓攀
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
邓攀
.
中国专利
:CN115684678A
,2023-02-03
[8]
测试卡的探针结构
[P].
吕文裕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕文裕
.
中国专利
:CN2906629Y
,2007-05-30
[9]
测试卡的探针结构
[P].
吕文裕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
吕文裕
.
中国专利
:CN1869714A
,2006-11-29
[10]
半导体元件测试卡及其垂直式探针
[P].
刘俊良
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘俊良
;
陈治坤
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈治坤
.
中国专利
:CN102375081A
,2012-03-14
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