探针测试卡及其制造方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010620492.X
申请日
2020-07-01
公开(公告)号
CN113030536A
公开(公告)日
2021-06-25
发明(设计)人
金庚珍 徐载亨
申请人
申请人地址
韩国京畿道
IPC主分类号
G01R1073
IPC分类号
代理机构
北京弘权知识产权代理有限公司 11363
代理人
郭放;许伟群
法律状态
实质审查的生效
国省代码
引用
下载
收藏
共 50 条
[21]
半导体装置及其探针测试方法 [P]. 
尹泰植 ;
李锺天 .
中国专利 :CN102110659A ,2011-06-29
[22]
一种芯片接口测试探针卡及测试方法 [P]. 
吕娅 ;
顾向前 ;
辅俊海 ;
成学娇 .
中国专利 :CN112782561A ,2021-05-11
[23]
探针卡及其组合装配方法 [P]. 
王正仪 .
中国专利 :CN101329365B ,2008-12-24
[24]
探针卡测试母板的校准方法、装置及系统 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120506927B ,2025-10-17
[25]
探针卡测试母板的校准方法、装置及系统 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120506927A ,2025-08-19
[26]
一种探针卡测试PCB板 [P]. 
张卫勇 ;
季寒飞 ;
吕晨昱 ;
钟志宏 .
中国专利 :CN210376461U ,2020-04-21
[27]
探针性能测试方法 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120446849B ,2025-12-26
[28]
探针性能测试方法 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120446849A ,2025-08-08
[29]
一种智能探针测试模组及其测试方法 [P]. 
邓章 .
中国专利 :CN110307872A ,2019-10-08
[30]
一种探针性能测试系统及其测试方法 [P]. 
刘志广 ;
蒋文德 ;
王润鹏 ;
黎华盛 ;
劳杰 .
中国专利 :CN117054951B ,2024-03-29