探针元件及其测试卡

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410031698.X

申请日：

2004-04-13

公开(公告)号：

CN1683933A

公开(公告)日：

2005-10-19

发明(设计)人：

洪文兴

申请人：

申请人地址：

台湾省新竹县

IPC主分类号：

G01R1073

IPC分类号：

G01R3126 H01L2166

代理机构：

北京三友知识产权代理有限公司

代理人：

刘领弟

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2007-11-14	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回
2005-12-14	实质审查的生效	实质审查的生效
2005-10-19	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体元件测试卡及其垂直式探针 [P].

刘俊良 ;

陈治坤 .

中国专利 :CN102375081A ,2012-03-14

[2]

探针测试卡 [P].

陈文祺 .

中国专利 :CN2466661Y ,2001-12-19

[3]

探针卡测试母板 [P].

蒋文德 ;

娄兆一 ;

邱雄 .

中国专利 :CN120802154A ,2025-10-17

[4]

探针卡及其制作方法以及测试半导体元件的方法 [P].

周友华 ;

赖怡仁 .

中国专利 :CN102288793B ,2011-12-21

[5]

探针卡及探针卡接口和集成电路元件测试系统 [P].

徐家梧 .

中国专利 :CN203658412U ,2014-06-18

[6]

探针测试卡及其制造方法 [P].

金庚珍 ;

徐载亨 .

韩国专利 :CN113030536B ,2024-08-02

[7]

探针测试卡及其制造方法 [P].

金庚珍 ;

徐载亨 .

中国专利 :CN113030536A ,2021-06-25

[8]

探针测试卡的探针包覆装置 [P].

陈文祺 .

中国专利 :CN1241023C ,2003-04-30

[9]

测试探针卡 [P].

刘俊良 ;

陈和也 .

中国专利 :CN120405196A ,2025-08-01

[10]

探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P].

花井寿佳 ;

谷村政明 ;

铃木浩司 .

日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27

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