探针卡测试母板

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202510963175.0
申请日
2025-07-14
公开(公告)号
CN120802154A
公开(公告)日
2025-10-17
发明(设计)人
蒋文德 娄兆一 邱雄
申请人
深圳市道格特科技有限公司
申请人地址
518000 广东省深圳市龙华区龙华街道清湖社区清湖村宝能科技园12栋1层B座裙楼
IPC主分类号
G01R35/02
IPC分类号
代理机构
深圳市华盛智荟知识产权代理事务所(普通合伙) 44604
代理人
江烜
法律状态
著录事项变更
国省代码
广东省 深圳市
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共 50 条
[1]
探针性能测试方法 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120446849B ,2025-12-26
[2]
探针性能测试方法 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120446849A ,2025-08-08
[3]
方便更换测试探针的探针卡 [P]. 
江波 .
中国专利 :CN117517735A ,2024-02-06
[4]
方便更换测试探针的探针卡 [P]. 
江波 .
中国专利 :CN117517735B ,2024-03-15
[5]
探针卡测试母板的校准方法、装置及系统 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120506927A ,2025-08-19
[6]
探针卡测试母板的校准方法、装置及系统 [P]. 
蒋文德 ;
娄兆一 ;
邱雄 .
中国专利 :CN120506927B ,2025-10-17
[7]
射频探针卡以及测试设备 [P]. 
丁盛峰 ;
李志浩 ;
阮辉 .
中国专利 :CN221595092U ,2024-08-23
[8]
探针测试装置、探针测试系统和探针卡 [P]. 
花井寿佳 ;
谷村政明 ;
铃木浩司 .
日本专利 :CN120044280A ,2025-05-27
[9]
探针头、探针卡、测试设备及由测试设备进行测试的电子装置 [P]. 
杨金田 ;
陈宥豪 ;
杨惠彬 ;
林信宏 .
中国专利 :CN120195435A ,2025-06-24
[10]
探针卡测试系统和探针卡测试方法 [P]. 
金鹤龙 .
韩国专利 :CN119290907A ,2025-01-10