平台性能测试的方法、装置、电子设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202111300665.0

申请日：

2021-11-04

公开(公告)号：

CN114003503B

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

李珍

申请人：

北京天融信网络安全技术有限公司北京天融信科技有限公司北京天融信软件有限公司

申请人地址：

100000 北京市海淀区上地东路1号院3号楼四层

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

北京超凡宏宇知识产权代理有限公司 11463

代理人：

李飞

法律状态：

授权

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	授权	授权

共 50 条

[1]

平台性能测试的方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李珍 .

中国专利 :CN114003503A ,2022-02-01

[2]

性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

张明昊 .

中国专利 :CN115695227A ,2023-02-03

[3]

云平台性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

李康康 .

中国专利 :CN117891738A ,2024-04-16

[4]

性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

彭红燕 .

中国专利 :CN109669865A ,2019-04-23

[5]

设备性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

赵凡 .

中国专利 :CN114328041A ,2022-04-12

[6]

软件性能测试方法、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

王晓虎 ;

冉碧辉 ;

陈春洋 .

中国专利 :CN114461534B ,2025-03-28

[7]

软件性能测试方法、系统、电子设备及可读存储介质 [P].

王晓虎 ;

冉碧辉 ;

陈春洋 .

中国专利 :CN114461534A ,2022-05-10

[8]

设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

包振兵 ;

邵栋 ;

王茂瞳 .

中国专利 :CN111984544B ,2024-03-22

[9]

设备性能测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

包振兵 ;

邵栋 ;

王茂瞳 .

中国专利 :CN111984544A ,2020-11-24

[10]

软件性能测试方法、装置、电子设备及可读存储介质 [P].

杨文 ;

楚培林 ;

陈强 .

中国专利 :CN113806205B ,2024-08-30

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