用于探测和/或分析颗粒的设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202480006125.7

申请日：

2024-01-02

公开(公告)号：

CN120435650A

公开(公告)日：

2025-08-05

发明(设计)人：

A·古普塔 T·埃林豪斯 K·博杜纳 S·贾伊斯瓦尔 S·菲洛梅纳 K·伊尔格纳

申请人：

K莱恩斯有限公司

申请人地址：

德国

IPC主分类号：

G01N15/14

IPC分类号：

G01N15/00

代理机构：

中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038

代理人：

俄旨淳

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-22	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 15/14申请日:20240102
2025-08-05	公开	公开

共 50 条

[1]

用于洗涤、消毒和/或杀菌的设备和方法 [P].

乔纳斯·安德森 ;

佩尔·诺尔林 .

中国专利 :CN105682693A ,2016-06-15

[2]

用于执行分析测量的方法和设备 [P].

M·贝格 ;

F·海勒 ;

B·林布格 .

中国专利 :CN113167737A ,2021-07-23

[3]

用于执行分析测量的方法和设备 [P].

M·贝格 ;

F·海勒 ;

B·林布格 .

:CN113167737B ,2024-06-25

[4]

用于尺寸、外形和棱角性分析以及用于矿石和岩石颗粒的成分分析的设备和方法 [P].

托尔吉尔·黑尔加松 ;

贾森·李 ;

梅尔文·L·史密斯 ;

昂纳尔·托马斯·莫勒 ;

特里格维·托尔吉尔松 ;

维拉·赫费尔 ;

于尔根·皮尔茨 ;

约恩·阿特勒·贝内迪克松 .

中国专利 :CN101040184B ,2007-09-19

[5]

用于相位衬度成像和/或暗场成像的分析格栅 [P].

T·克勒 ;

R·斯特德曼布克 ;

M·西蒙 ;

W·吕腾 ;

H·K·维乔雷克 .

中国专利 :CN109478440A ,2019-03-15

[6]

用于检测粒度和/或粒形的分析设备 [P].

张凯红 ;

赵宏生 ;

刘小雪 ;

李自强 ;

唐春和 .

中国专利 :CN102768172A ,2012-11-07

[7]

用于分析物体的方法和设备 [P].

弗罗德·莱茵霍特 ;

泰耶·约恩森 .

中国专利 :CN101126698B ,2008-02-20

[8]

用于分析软件的方法和设备 [P].

S·舒库马兰 ;

R·塞图 .

中国专利 :CN102207901B ,2011-10-05

[9]

用于表征颗粒的装置和表征颗粒的方法 [P].

塞伊·拉通德-达达 .

英国专利 :CN120202400A ,2025-06-24

[10]

用于数据获取和分析的系统和方法 [P].

D·A·斯科特 .

中国专利 :CN101212353A ,2008-07-02

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