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基于多光谱成像融合的舌象检测方法及系统
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202510199243.0
申请日
:
2025-02-24
公开(公告)号
:
CN120360492A
公开(公告)日
:
2025-07-25
发明(设计)人
:
李鹏
牛群峰
尚泽昊
申请人
:
河南工业大学
申请人地址
:
450001 河南省郑州市高新技术开发区莲花街100号
IPC主分类号
:
A61B5/00
IPC分类号
:
G06T7/00
G06T7/11
G06T7/194
G06T7/33
G06T7/45
G06V10/80
G06V10/46
G06V10/50
G06V10/52
G06V10/56
G06V10/58
G06V10/764
G06V10/82
G06N3/0455
代理机构
:
郑州大通专利商标代理有限公司 41111
代理人
:
石丹丹
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 常州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-07-25
公开
公开
2025-08-12
实质审查的生效
实质审查的生效IPC(主分类):A61B 5/00申请日:20250224
共 50 条
[1]
基于多光谱成像的地面污渍检测方法、系统及存储介质
[P].
郑帆
论文数:
0
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
郑帆
;
陈超
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
陈超
;
沈昱
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
沈昱
;
张崇磊
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
张崇磊
;
梁正平
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
梁正平
;
刘湘宇
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
刘湘宇
;
吕鹏
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
吕鹏
;
梁洪易
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
梁洪易
.
中国专利
:CN120431475A
,2025-08-05
[2]
基于多光谱成像的地面污渍检测方法、系统及存储介质
[P].
郑帆
论文数:
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
郑帆
;
陈超
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
陈超
;
沈昱
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
沈昱
;
张崇磊
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
张崇磊
;
梁正平
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
梁正平
;
刘湘宇
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
刘湘宇
;
吕鹏
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
吕鹏
;
梁洪易
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机构:
深圳市中达瑞和科技有限公司
深圳市中达瑞和科技有限公司
梁洪易
.
中国专利
:CN120431475B
,2025-09-09
[3]
基于多光谱成像的液晶玻璃缺陷检测方法、系统及设备
[P].
郭丽
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机构:
深圳市奥显智能有限公司
深圳市奥显智能有限公司
郭丽
;
古颖
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机构:
深圳市奥显智能有限公司
深圳市奥显智能有限公司
古颖
.
中国专利
:CN121033007A
,2025-11-28
[4]
基于多光谱成像的肉糜掺杂快速检测设备及检测方法
[P].
逄滨
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逄滨
;
刘太联
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刘太联
;
李爱涛
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李爱涛
;
孙京新
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孙京新
;
于林宏
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于林宏
.
中国专利
:CN106442360A
,2017-02-22
[5]
多光谱成像系统
[P].
麻树波
论文数:
0
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0
麻树波
.
中国专利
:CN103162826A
,2013-06-19
[6]
多光谱成像方法与多光谱成像系统
[P].
刘海军
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刘海军
;
金付龙
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金付龙
;
朱晓华
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朱晓华
;
耿东平
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耿东平
;
黄继舟
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黄继舟
;
陶华
论文数:
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陶华
.
中国专利
:CN114216561A
,2022-03-22
[7]
基于多光谱成像的工业零件缺陷检测方法及系统
[P].
刘佩直
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机构:
杭州一眼智能科技有限公司
杭州一眼智能科技有限公司
刘佩直
;
钱佳琛
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机构:
杭州一眼智能科技有限公司
杭州一眼智能科技有限公司
钱佳琛
.
中国专利
:CN120778743A
,2025-10-14
[8]
一种基于多光谱成像的产品缺陷检测方法及系统
[P].
论文数:
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机构:
柯跃前
;
论文数:
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机构:
蒋威
;
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机构:
叶一青
;
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机构:
李昆塬
.
中国专利
:CN120147310B
,2025-07-15
[9]
一种基于多光谱成像的产品缺陷检测方法及系统
[P].
论文数:
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机构:
柯跃前
;
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机构:
蒋威
;
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机构:
叶一青
;
论文数:
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机构:
李昆塬
.
中国专利
:CN120147310A
,2025-06-13
[10]
基于多光谱成像的电子元器件外观缺陷检测方法及系统
[P].
杜志强
论文数:
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
杜志强
;
韩顺利
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
韩顺利
;
朱军锋
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
朱军锋
;
张桂鸣
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
张桂鸣
;
蒋金春
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
蒋金春
;
李成瑞
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
李成瑞
;
胡晓宁
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机构:
中国电子科技集团公司第四十一研究所
中国电子科技集团公司第四十一研究所
胡晓宁
.
中国专利
:CN119780119A
,2025-04-08
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