一种芯片通用测试台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202421290549.4

申请日：

2024-06-06

公开(公告)号：

CN223166774U

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

夏俊杰林华胜顾红伟

申请人：

深圳超盈智能科技有限公司

申请人地址：

518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/02

代理机构：

代理人：

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-29	授权	授权
2025-11-07	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更	专利权人的姓名或者名称、国籍和地址的变更IPC(主分类):G01R 1/04变更事项:专利权人变更前:深圳超盈智能科技有限公司变更后:深圳科摩思智能科技有限公司变更事项:国家或地区变更前:中国变更后:中国变更事项:地址变更前:518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层变更后:518100 广东省深圳市龙岗区坂田街道象角塘社区中浩路1号美竹巷润昌工业园厂区厂房A栋五层

共 50 条

[1]

芯片测试台 [P].

王琳 ;

唐国强 ;

陈云 ;

顾方成 ;

沈国平 .

中国专利 :CN201514459U ,2010-06-23

[2]

一种芯片测试台 [P].

王君 .

中国专利 :CN214374918U ,2021-10-08

[3]

通用OC测试台 [P].

李梓铭 ;

乐攀 ;

汤威 ;

蹇昌洲 .

中国专利 :CN212159007U ,2020-12-15

[4]

通用测试台 [P].

张丛科 ;

杨登月 .

中国专利 :CN309630626S ,2025-11-25

[5]

一种芯片测试台结构 [P].

邓国发 ;

蔡晨 .

中国专利 :CN214703874U ,2021-11-12

[6]

芯片测试台 [P].

陈永和 ;

姚建飞 ;

李自力 .

中国专利 :CN209296778U ,2019-08-23

[7]

模块通用高效测试台 [P].

蒋弢 .

中国专利 :CN201955356U ,2011-08-31

[8]

一种芯片测试台 [P].

国宝 ;

韩春勇 ;

蔡威威 ;

王剑峰 ;

朱小宝 ;

应华 .

中国专利 :CN220650816U ,2024-03-22

[9]

一种芯片自动测试台 [P].

李勇 ;

刘湘鹏 ;

刘振华 .

中国专利 :CN218412641U ,2023-01-31

[10]

一种芯片多工位测试台 [P].

艾育林 ;

林延海 .

中国专利 :CN217020287U ,2022-07-22

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