芯片测试台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201821885704.1

申请日：

2018-11-15

公开(公告)号：

CN209296778U

公开(公告)日：

2019-08-23

发明(设计)人：

陈永和姚建飞李自力

申请人：

申请人地址：

210001 江苏省南京市白下区太平南路58号318室

IPC主分类号：

G01R104

IPC分类号：

G01R3128 G01S740

代理机构：

北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411

代理人：

黄冠华

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-23	授权	授权

共 50 条

[1]

万能芯片测试台 [P].

陈永和 ;

姚建飞 ;

李自力 .

中国专利 :CN109444481A ,2019-03-08

[2]

芯片测试台 [P].

王琳 ;

唐国强 ;

陈云 ;

顾方成 ;

沈国平 .

中国专利 :CN201514459U ,2010-06-23

[3]

芯片转动测试台 [P].

桂义勇 ;

张伟祥 .

中国专利 :CN223526395U ,2025-11-07

[4]

一种芯片自动测试台 [P].

李勇 ;

刘湘鹏 ;

刘振华 .

中国专利 :CN218412641U ,2023-01-31

[5]

一种芯片测试台 [P].

王君 .

中国专利 :CN214374918U ,2021-10-08

[6]

一种芯片测试台 [P].

国宝 ;

韩春勇 ;

蔡威威 ;

王剑峰 ;

朱小宝 ;

应华 .

中国专利 :CN220650816U ,2024-03-22

[7]

全自动芯片测试台 [P].

金英杰 ;

刘强 ;

方高松 ;

梁志贤 .

中国专利 :CN114624479A ,2022-06-14

[8]

芯片功率器件测试台 [P].

张侠 ;

董科 .

中国专利 :CN218003637U ,2022-12-09

[9]

一种芯片通用测试台 [P].

夏俊杰 ;

林华胜 ;

顾红伟 .

中国专利 :CN223166774U ,2025-07-29

[10]

一种芯片测试台结构 [P].

邓国发 ;

蔡晨 .

中国专利 :CN214703874U ,2021-11-12

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