芯片转动测试台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202422505419.4

申请日：

2024-10-16

公开(公告)号：

CN223526395U

公开(公告)日：

2025-11-07

发明(设计)人：

桂义勇张伟祥

申请人：

苏州永创智能科技有限公司

申请人地址：

215011 江苏省苏州市高新区鹿山路369号39幢

IPC主分类号：

G01R1/04

IPC分类号：

G01R31/28

代理机构：

苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697

代理人：

王健

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-11-07	授权	授权

共 50 条

[1]

芯片测试台 [P].

王琳 ;

唐国强 ;

陈云 ;

顾方成 ;

沈国平 .

中国专利 :CN201514459U ,2010-06-23

[2]

芯片功率器件测试台 [P].

张侠 ;

董科 .

中国专利 :CN218003637U ,2022-12-09

[3]

BGA封装芯片的测试台 [P].

王祖政 ;

杜同兴 .

中国专利 :CN208013370U ,2018-10-26

[4]

芯片测试台 [P].

陈永和 ;

姚建飞 ;

李自力 .

中国专利 :CN209296778U ,2019-08-23

[5]

电机测试台 [P].

江达 ;

龚运息 ;

韦立斌 ;

蓝绍东 ;

刘兵 ;

丘锦辉 .

中国专利 :CN203745609U ,2014-07-30

[6]

冷气测试台 [P].

张明刚 ;

张强 ;

陈怀宇 .

中国专利 :CN211232275U ,2020-08-11

[7]

一种芯片测试台 [P].

王君 .

中国专利 :CN214374918U ,2021-10-08

[8]

加热测试台 [P].

余廷义 ;

黄银光 .

中国专利 :CN206199344U ,2017-05-31

[9]

振动测试台 [P].

项阳 .

中国专利 :CN220339623U ,2024-01-12

[10]

李春红 ;

包郁明 ;

田兰 ;

李娟 ;

张明晶 .

中国专利 :CN223205408U ,2025-08-08

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