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一种自动化三维彩色成像与测量方法
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201910300723.6
申请日
:
2019-04-15
公开(公告)号
:
CN110246186B
公开(公告)日
:
2025-08-01
发明(设计)人
:
陈海龙
刘梦龙
彭翔
张青松
申请人
:
深圳市易尚展示股份有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市福田区福强路4001号(深圳文化创意园)AB座三层B301
IPC主分类号
:
G06T7/80
IPC分类号
:
G06T15/04
G06T15/50
G06T17/00
G01B11/25
代理机构
:
华进联合专利商标代理有限公司 44224
代理人
:
章上晓
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-01
授权
授权
共 50 条
[1]
一种自动化三维彩色成像与测量方法
[P].
陈海龙
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陈海龙
;
刘梦龙
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刘梦龙
;
彭翔
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彭翔
;
张青松
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张青松
.
中国专利
:CN110246186A
,2019-09-17
[2]
一种自动化三维彩色成像与测量系统
[P].
陈海龙
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机构:
深圳市易尚展示股份有限公司
深圳市易尚展示股份有限公司
陈海龙
;
何懂
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机构:
深圳市易尚展示股份有限公司
深圳市易尚展示股份有限公司
何懂
;
刘梦龙
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机构:
深圳市易尚展示股份有限公司
深圳市易尚展示股份有限公司
刘梦龙
;
张青松
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机构:
深圳市易尚展示股份有限公司
深圳市易尚展示股份有限公司
张青松
;
廖一帆
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机构:
深圳市易尚展示股份有限公司
深圳市易尚展示股份有限公司
廖一帆
.
中国专利
:CN110243307B
,2025-01-17
[3]
一种自动化三维彩色成像与测量系统
[P].
陈海龙
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陈海龙
;
何懂
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何懂
;
刘梦龙
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刘梦龙
;
张青松
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张青松
;
廖一帆
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廖一帆
.
中国专利
:CN110243307A
,2019-09-17
[4]
三维测量装置和三维测量方法
[P].
太田悠介
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机构:
发那科株式会社
发那科株式会社
太田悠介
.
日本专利
:CN115280097B
,2025-08-26
[5]
三维测量系统与三维测量方法
[P].
余良彬
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余良彬
;
林栋
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林栋
.
中国专利
:CN103376071B
,2013-10-30
[6]
一种三维可视化磁场测量方法及系统
[P].
陈树亮
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陈树亮
;
郝保磊
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郝保磊
;
汤劲松
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汤劲松
;
王明星
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王明星
;
袁文琦
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袁文琦
;
许钦华
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许钦华
.
中国专利
:CN113325341B
,2021-08-31
[7]
三维测量方法
[P].
林祯
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林祯
.
中国专利
:CN102667854A
,2012-09-12
[8]
三维测量方法与仪器
[P].
黎达
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黎达
;
张志辉
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张志辉
;
任明俊
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任明俊
;
李荣彬
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李荣彬
;
杜雪
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杜雪
.
中国专利
:CN105277132A
,2016-01-27
[9]
三维测量系统、三维测量方法和带彩色代码标识
[P].
高地伸夫
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高地伸夫
;
森山拓哉
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森山拓哉
;
秀岛昌行
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秀岛昌行
;
山田光晴
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山田光晴
.
中国专利
:CN1912537A
,2007-02-14
[10]
三维测量装置、三维测量方法
[P].
田端伸章
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田端伸章
.
中国专利
:CN112567199B
,2021-03-26
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