一种版图设计规则检查方法、装置、设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410130738.3

申请日：

2024-01-30

公开(公告)号：

CN120409417A

公开(公告)日：

2025-08-01

发明(设计)人：

诸杰明郑思琪

申请人：

华芯巨数（杭州）微电子有限公司

申请人地址：

310000 浙江省杭州市滨江区月明路595号迪普科技大厦15层

IPC主分类号：

G06F30/398

IPC分类号：

G06F30/392

代理机构：

深圳市智享知识产权代理有限公司 44361

代理人：

王琴

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-08-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 30/398申请日:20240130
2025-08-01	公开	公开

共 50 条

[1]

版图设计规则检查方法、系统、设备、介质及产品 [P].

徐熔杞 .

中国专利 :CN120803676B ,2025-12-09

[2]

版图设计规则检查方法、系统、设备、介质及产品 [P].

徐熔杞 .

中国专利 :CN120803676A ,2025-10-17

[3]

芯片版图的设计规则检查方法、系统及存储介质 [P].

黄小蕾 ;

柳永胜 ;

蒋胜 .

中国专利 :CN115587569B ,2024-04-30

[4]

芯片版图的设计规则检查方法、系统及存储介质 [P].

黄小蕾 ;

柳永胜 ;

蒋胜 .

中国专利 :CN115587569A ,2023-01-10

[5]

设计规则检查方法、装置及存储介质 [P].

吴彬 .

中国专利 :CN112800705A ,2021-05-14

[6]

用于版图的设计规则检查的方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118410770A ,2024-07-30

[7]

版图设计检查方法、设备终端及存储介质 [P].

邱跃三 .

中国专利 :CN115358183A ,2022-11-18

[8]

设计规则检查方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

刘涛 .

中国专利 :CN117787204A ,2024-03-29

[9]

芯片版图设计规则检查方法 [P].

周喆 .

中国专利 :CN109885888A ,2019-06-14

[10]

设计规则检查方法、系统及可读存储介质 [P].

陈柱石 .

中国专利 :CN120471009A ,2025-08-12

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