版图设计规则检查方法、系统、设备、介质及产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202511302605.0

申请日：

2025-09-12

公开(公告)号：

CN120803676A

公开(公告)日：

2025-10-17

发明(设计)人：

徐熔杞

申请人：

华芯巨数（杭州）微电子有限公司

申请人地址：

310000 浙江省杭州市滨江区西兴街道月明路595号迪普科技大厦15层

IPC主分类号：

G06F9/48

IPC分类号：

G06F9/50 G06F30/398 G06T1/20

代理机构：

深圳市智享知识产权代理有限公司 44361

代理人：

王琴

法律状态：

授权

国省代码：

浙江省杭州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-12-09	授权	授权
2025-11-04	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 9/48申请日:20250912
2025-10-17	公开	公开

共 50 条

[1]

版图设计规则检查方法、系统、设备、介质及产品 [P].

徐熔杞 .

中国专利 :CN120803676B ,2025-12-09

[2]

版图自动布线方法、系统、设备、介质及产品 [P].

王慧敏 .

中国专利 :CN120850938B ,2025-11-28

[3]

版图自动布线方法、系统、设备、介质及产品 [P].

王慧敏 .

中国专利 :CN120850938A ,2025-10-28

[4]

芯片版图的设计规则检查方法、系统及存储介质 [P].

黄小蕾 ;

柳永胜 ;

蒋胜 .

中国专利 :CN115587569B ,2024-04-30

[5]

芯片版图的设计规则检查方法、系统及存储介质 [P].

黄小蕾 ;

柳永胜 ;

蒋胜 .

中国专利 :CN115587569A ,2023-01-10

[6]

半导体设计版图的设计规则检查方法、设备、介质与产品 [P].

邝杨 ;

丁明 .

中国专利 :CN120781785A ,2025-10-14

[7]

版图设计规则检查的方法及系统 [P].

张虎 ;

刘喆秋 .

中国专利 :CN105740486A ,2016-07-06

[8]

一种版图设计规则检查方法、装置、设备及存储介质 [P].

诸杰明 ;

郑思琪 .

中国专利 :CN120409417A ,2025-08-01

[9]

芯片版图设计规则检查方法 [P].

周喆 .

中国专利 :CN109885888A ,2019-06-14

[10]

用于版图的设计规则检查的方法、电子设备及存储介质 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN118410770A ,2024-07-30

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