缺陷检测装置及检测设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510575907.9

申请日：

2025-05-06

公开(公告)号：

CN120369719A

公开(公告)日：

2025-07-25

发明(设计)人：

陈强皮吉中刘枢

申请人：

北京思谋智能科技有限公司

申请人地址：

100101 北京市朝阳区关庄路2号院1号楼-2至6层101内5层C501-1室

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

B65G47/90 G01N21/01

代理机构：

华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

熊由勇

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-25	公开	公开
2025-08-12	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20250506

共 50 条

[1]

缺陷检测装置及检测设备 [P].

高泂 ;

邱国良 ;

丁华伟 ;

杜荣钦 ;

尹建刚 ;

高云峰 .

中国专利 :CN216208529U ,2022-04-05

[2]

屏幕缺陷检测装置及屏幕缺陷检测设备 [P].

郑嘉瑞 ;

王赵良 ;

赵从高 ;

谭玄 ;

高荣志 ;

鲁志立 ;

胡金 .

中国专利 :CN214472855U ,2021-10-22

[3]

缺陷检测装置及铁轨裂纹检测设备 [P].

伍军 ;

赵博文 ;

余志武 ;

毛建峰 ;

项诸宝 ;

张少春 ;

周梦良 ;

童晓枫 .

中国专利 :CN118961866A ,2024-11-15

[4]

检测装置及缺陷检测设备 [P].

黄智成 ;

曾昆 ;

龙丹 ;

邹建文 .

中国专利 :CN119375235A ,2025-01-28

[5]

检测装置及缺陷检测设备 [P].

黄智成 ;

曾昆 ;

龙丹 ;

邹建文 .

中国专利 :CN223332914U ,2025-09-12

[6]

表面缺陷检测装置及表面缺陷检测设备 [P].

孙立 ;

沈红佳 ;

连泽钦 .

中国专利 :CN217277922U ,2022-08-23

[7]

缺陷检测设备及缺陷检测方法 [P].

卢龙龙 .

中国专利 :CN120294009A ,2025-07-11

[8]

缺陷检测方法及装置、检测设备及可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

夏爱华 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN112070766A ,2020-12-11

[9]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

梅红伟 ;

涂彦昕 ;

胡伟 ;

刘健犇 ;

刘立帅 ;

王黎明 .

中国专利 :CN110031511B ,2019-07-19

[10]

缺陷检测装置、缺陷检测系统及缺陷检测方法 [P].

张勤 ;

付翔宇 ;

李国军 .

中国专利 :CN117949458A ,2024-04-30

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