缺陷检测方法及装置、检测设备及可读存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011275270.5

申请日：

2020-11-16

公开(公告)号：

CN112070766A

公开(公告)日：

2020-12-11

发明(设计)人：

陈鲁夏爱华佟异张嵩

申请人：

申请人地址：

518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T713 G06T770 G06T790 G06T500 G06K946 G06K932

代理机构：

北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201

代理人：

邵泳城

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-12-11	公开	公开
2021-03-12	专利权人的姓名或者名称、地址的变更	专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):G06T 7/00 变更事项:专利权人变更前:深圳中科飞测科技有限公司变更后:深圳中科飞测科技股份有限公司变更事项:地址变更前:518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301 变更后:518110 广东省深圳市龙华区大浪街道同胜社区上横朗第四工业区2号101、201、301
2021-02-19	授权	授权
2020-12-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20201116

共 50 条

[1]

缺陷检测方法、装置、设备、系统及存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖瑶 ;

张鹏斌 ;

张嵩 .

中国专利 :CN117670781A ,2024-03-08

[2]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质 [P].

郑贤超 ;

葛亮 .

中国专利 :CN117830255A ,2024-04-05

[3]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P].

肖光曦 .

中国专利 :CN111524107A ,2020-08-11

[4]

缺陷检测方法、缺陷检测装置及计算机可读存储介质 [P].

原进良 ;

曹沿松 ;

纪其乐 .

中国专利 :CN115524347A ,2022-12-27

[5]

缺陷检测方法与检测装置及计算机可读存储介质 [P].

王倩 ;

宋林东 .

中国专利 :CN110441326A ,2019-11-12

[6]

缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P].

蔡东佐 ;

郭锦斌 ;

林子甄 ;

简士超 .

中国专利 :CN114764764A ,2022-07-19

[7]

缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P].

蔡东佐 ;

郭锦斌 ;

林子甄 ;

简士超 .

中国专利 :CN114691477A ,2022-07-01

[8]

缺陷检测方法及装置、电子装置及计算机可读存储介质 [P].

蔡东佐 ;

郭锦斌 ;

林子甄 ;

简士超 .

中国专利 :CN114691477B ,2025-09-26

[9]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012A ,2022-04-12

[10]

缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质 [P].

陈鲁 ;

肖遥 ;

佟异 ;

张嵩 .

中国专利 :CN114332012B ,2025-09-12

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