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半导体辐射检测器
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202080090871.0
申请日
:
2020-02-26
公开(公告)号
:
CN114981685B
公开(公告)日
:
2025-08-05
发明(设计)人
:
曹培炎
刘雨润
申请人
:
深圳帧观德芯科技有限公司
申请人地址
:
518000 广东省深圳市南山区招商街道沿山社区南海大道1019号南山医疗器械产业园A、B座B507
IPC主分类号
:
G01T1/24
IPC分类号
:
代理机构
:
北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290
代理人
:
房岭梅;姚鹏
法律状态
:
授权
国省代码
:
广东省 深圳市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2025-08-05
授权
授权
共 50 条
[1]
半导体辐射检测器
[P].
曹培炎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳帧观德芯科技有限公司
深圳帧观德芯科技有限公司
曹培炎
;
刘雨润
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳帧观德芯科技有限公司
深圳帧观德芯科技有限公司
刘雨润
.
中国专利
:CN113260880B
,2025-05-16
[2]
半导体辐射检测器
[P].
曹培炎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
曹培炎
;
刘雨润
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘雨润
.
中国专利
:CN113260880A
,2021-08-13
[3]
半导体辐射检测器
[P].
汉斯·安德森
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
汉斯·安德森
.
中国专利
:CN110462443A
,2019-11-15
[4]
半导体辐射检测器
[P].
熊泽良彦
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
熊泽良彦
.
中国专利
:CN85106296A
,1986-12-24
[5]
半导体辐射检测器
[P].
曹培炎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳帧观德芯科技有限公司
深圳帧观德芯科技有限公司
曹培炎
.
中国专利
:CN120457366A
,2025-08-08
[6]
用于辐射检测器的半导体结构以及辐射检测器
[P].
麦克尔·皮尔斯科尔
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
麦克尔·皮尔斯科尔
.
中国专利
:CN103258873A
,2013-08-21
[7]
辐射检测器
[P].
曹培炎
论文数:
0
引用数:
0
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0
曹培炎
;
刘雨润
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘雨润
.
中国专利
:CN114902081A
,2022-08-12
[8]
可见光检测半导体辐射检测器
[P].
阿尔托·奥罗拉
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
阿尔托·奥罗拉
.
中国专利
:CN101356646B
,2009-01-28
[9]
制造半导体辐射检测器的方法
[P].
曹培炎
论文数:
0
引用数:
0
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0
曹培炎
;
刘雨润
论文数:
0
引用数:
0
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0
刘雨润
.
中国专利
:CN110494989B
,2019-11-22
[10]
制作辐射检测器的方法
[P].
曹培炎
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳帧观德芯科技有限公司
深圳帧观德芯科技有限公司
曹培炎
;
刘雨润
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
深圳帧观德芯科技有限公司
深圳帧观德芯科技有限公司
刘雨润
.
中国专利
:CN111587388B
,2024-06-14
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