晶圆层析成像的在线几何校正方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510855144.3

申请日：

2025-06-25

公开(公告)号：

CN120355810A

公开(公告)日：

2025-07-22

发明(设计)人：

请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名请求不公布姓名

申请人：

深圳市埃芯半导体科技有限公司

申请人地址：

518000 广东省深圳市龙华区观澜街道库坑社区库坑观光路1310号101

IPC主分类号：

G06T11/00

IPC分类号：

G06T5/80 G06T5/77 G06T5/50 G06T7/60 G06T17/00 G06T7/73 G06T7/246

代理机构：

深圳中一联合知识产权代理有限公司 44414

代理人：

丁月蓉

法律状态：

公开

国省代码：

广东省深圳市

引用

下载

共 50 条

[1]

晶圆层析成像的在线几何校正方法及装置 [P].

请求不公布姓名 ;

请求不公布姓名 .

中国专利 :CN120355810B ,2025-09-05

[2]

几何校正方法及装置 [P].

傅东宁 ;

刘宇 ;

张新 ;

何峰 ;

王辉 .

中国专利 :CN103679665A ,2014-03-26

[3]

X射线成像设备的几何校正方法及装置 [P].

李洋 .

中国专利 :CN111544020A ,2020-08-18

[4]

软场层析成像系统及软场层析成像方法 [P].

牛冉 ;

亚历山大.S.罗斯 ;

布鲁斯.C.C.安穆 ;

高子仁 ;

谭伟 .

中国专利 :CN104068854A ,2014-10-01

[5]

一种光学相干层析成像系统图像校正方法 [P].

王东琳 ;

杨坤 ;

杨红军 ;

郝蕴琦 ;

翟凤潇 .

中国专利 :CN107862661A ,2018-03-30

[6]

不规则尺寸空变网格层析成像静校正方法 [P].

李培明 ;

冯泽元 ;

闫智慧 ;

马青坡 .

中国专利 :CN102338887A ,2012-02-01

[7]

层析成像方法和装置 [P].

R.肖恩马克斯 ;

P.波托塞克 .

中国专利 :CN107843607B ,2018-03-27

[8]

层析成像的重建方法 [P].

孔明明 ;

李冬东 ;

赵辉 .

中国专利 :CN105096357A ,2015-11-25

[9]

一种层析成像几何参数的校准方法 [P].

骆清铭 ;

杨孝全 ;

龚辉 ;

孟远征 .

中国专利 :CN102488528B ,2012-06-13

[10]

多投影拼接几何校正方法及校正装置 [P].

李凯 ;

王静 ;

赵光耀 ;

刘源 .

中国专利 :CN102841767A ,2012-12-26

← 1 2 3 4 5 →

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-22	公开	公开
2025-12-26	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移IPC(主分类):G06T 11/00登记生效日:20251210变更事项:专利权人变更前权利人:深圳市埃芯半导体科技有限公司变更后权利人:埃芯科技（武汉）有限公司变更事项:国家或地区变更前权利人:中国变更后权利人:中国变更事项:地址变更前权利人:518000 广东省深圳市龙华区观澜街道库坑社区库坑观光路1310号101变更后权利人:430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道999号武汉未来科技城龙山创新园一期B4栋18楼752
2025-09-05	授权	授权
2025-08-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 11/00申请日:20250625