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功率半导体器件测试系统及方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510683619.5
申请日：
2025-05-26
公开(公告)号：
CN120405366A
公开(公告)日：
2025-08-01
发明(设计)人：
张毅豪 陈勇 赵斌 程旭 赵志斌 陈建福 孙鹏 高志华 何建宗 李振聪 裴星宇 李建标 吴宏远 赵晓燕 廖雁群
申请人：
华北电力大学 广东电网有限责任公司珠海供电局
申请人地址：
102206 北京市昌平区回龙观北农路2号
IPC主分类号：
G01R31/26
IPC分类号：
G01R1/04 G01R1/44
代理机构：
北京集佳知识产权代理有限公司 11227
代理人：
杨小红
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
北京市 市辖区
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-08-19 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/26申请日:20250526
2025-08-01 公开 公开
共 50 条
[1]
功率半导体器件测试系统 [P]. 
任志军 ;
赵艳鹏 ;
王丽会 ;
齐新立 ;
庞智辉 .
中国专利 :CN113311305A ,2021-08-27
[2]
功率半导体器件测试系统 [P]. 
任志军 ;
赵艳鹏 ;
王丽会 ;
靳宝敏 ;
陈彦锐 .
中国专利 :CN215005722U ,2021-12-03
[3]
功率半导体器件功率循环测试系统 [P]. 
任永硕 ;
王荣华 ;
熊华燕 ;
梁辉南 ;
高珺 .
中国专利 :CN109814020A ,2019-05-28
[4]
功率半导体器件功率循环测试系统 [P]. 
任永硕 ;
王荣华 ;
熊华燕 ;
梁辉南 ;
高珺 .
中国专利 :CN209746082U ,2019-12-06
[5]
功率半导体器件功率循环测试系统 [P]. 
任永硕 ;
王荣华 ;
熊华燕 ;
梁辉南 ;
高珺 .
中国专利 :CN109814020B ,2024-11-01
[6]
功率半导体器件热阻测试系统及方法 [P]. 
李坚庆 ;
李锡光 ;
乔良 ;
张胜发 .
中国专利 :CN118130990A ,2024-06-04
[7]
一种功率半导体器件的功率循环测试系统及方法 [P]. 
王浩然 ;
王圣明 ;
周法杰 ;
王鼎奕 .
中国专利 :CN111537860B ,2020-08-14
[8]
功率半导体器件的测试系统和测试方法 [P]. 
于波 ;
于丽丽 .
中国专利 :CN115327332B ,2025-05-27
[9]
功率半导体器件的测试系统和测试方法 [P]. 
于波 ;
于丽丽 .
中国专利 :CN115327332A ,2022-11-11
[10]
功率半导体器件动态特性测试系统 [P]. 
柯俊吉 ;
钟圣荣 .
中国专利 :CN114675152A ,2022-06-28
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