一种芯片调试装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202211342198.2

申请日：

2022-10-31

公开(公告)号：

CN115658415B

公开(公告)日：

2025-07-29

发明(设计)人：

祁伟谌彤敖海

申请人：

芯动微电子科技（武汉）有限公司

申请人地址：

430000 湖北省武汉市江夏区光谷智慧园13A

IPC主分类号：

G06F11/273

IPC分类号：

G06F11/22

代理机构：

深圳市六加知识产权代理有限公司 44372

代理人：

向彬

法律状态：

授权

国省代码：

河北省石家庄市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-07-29	授权	授权

共 50 条

[1]

一种芯片调试装置和方法 [P].

祁伟 ;

谌彤 ;

敖海 .

中国专利 :CN115658415A ,2023-01-31

[2]

多芯片调试方法及多芯片调试装置 [P].

吴候 ;

吴滔 .

中国专利 :CN112231161B ,2024-03-19

[3]

多芯片调试方法及多芯片调试装置 [P].

吴候 ;

吴滔 .

中国专利 :CN112231161A ,2021-01-15

[4]

芯片的调试系统、调试方法和调试装置 [P].

肖勇 ;

王少亮 ;

赵明洋 .

中国专利 :CN104239175A ,2014-12-24

[5]

芯片调试装置、系统和芯片 [P].

许凌 ;

黄志鑫 ;

白小鹏 .

中国专利 :CN112015611A ,2020-12-01

[6]

一种芯片与调试装置的安全调试方法、调试装置和芯片 [P].

陆钊 .

中国专利 :CN118503029A ,2024-08-16

[7]

一种芯片调试装置、调试方法及SOC芯片系统 [P].

丁明耀 .

中国专利 :CN105808396A ,2016-07-27

[8]

芯片调试装置和芯片 [P].

符潇天 ;

高海飞 .

中国专利 :CN120704963A ,2025-09-26

[9]

调试装置、调试方法和调试系统 [P].

万中魁 ;

巩方源 ;

王志懋 ;

李亮 .

中国专利 :CN114265802A ,2022-04-01

[10]

调试装置、调试方法和调试系统 [P].

万中魁 ;

巩方源 ;

王志懋 ;

李亮 .

中国专利 :CN114265802B ,2025-01-21

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