测试方法、系统、存储介质和程序产品

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202510657395.0

申请日：

2025-05-21

公开(公告)号：

CN120179565B

公开(公告)日：

2025-08-08

发明(设计)人：

郭峰路纪雷

申请人：

苏州元脑智能科技有限公司

申请人地址：

215000 江苏省苏州市吴中经济开发区综保区经一路1号8幢

IPC主分类号：

G06F11/3668

IPC分类号：

代理机构：

中科专利商标代理有限责任公司 11021

代理人：

吴梦圆

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-06-20	公开	公开
2025-08-08	授权	授权
2025-07-08	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/3668申请日:20250521

共 50 条

[1]

测试方法、系统、存储介质和程序产品 [P].

郭峰 ;

路纪雷 .

中国专利 :CN120179565A ,2025-06-20

[2]

背板测试装置、方法、系统、设备、存储介质及程序产品 [P].

傅全喜 ;

刘自勇 .

中国专利 :CN120560924A ,2025-08-29

[3]

背板测试装置、方法、系统、设备、存储介质及程序产品 [P].

傅全喜 ;

刘自勇 .

中国专利 :CN120560924B ,2025-12-05

[4]

程序测试方法、存储介质和系统 [P].

谢林 ;

闫洋铭 ;

惠超 .

中国专利 :CN111258890A ,2020-06-09

[5]

测试方法、测试装置、存储介质和程序产品 [P].

杨远君 ;

任艳 ;

欧月华 .

中国专利 :CN118408718A ,2024-07-30

[6]

测试方法、装置、系统、存储介质及程序产品 [P].

周磊 .

中国专利 :CN119271562A ,2025-01-07

[7]

测试系统、测试方法和测试系统用程序存储介质 [P].

道北俊行 ;

川添宽 ;

古川和树 ;

廣濑翼 ;

盐见健司 .

日本专利 :CN117693673A ,2024-03-12

[8]

芯片测试方法、芯片测试系统、存储介质及程序产品 [P].

黄祚恺 ;

陈俊任 ;

冯荣城 ;

张颢哲 ;

何东承 .

中国专利 :CN120629885A ,2025-09-12

[9]

测试方法、装置、存储介质和程序产品 [P].

叶相相 .

中国专利 :CN121029520A ,2025-11-28

[10]

系统测试方法、装置、设备、存储介质和程序产品 [P].

李久春 ;

陈维 .

中国专利 :CN118820105A ,2024-10-22

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